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上海华岭集成电路技术股份有限公司 * 2011年集成电路测试技术新进展 上海华岭集成电路技术股份有限公司 All Rights Reserved – Sino IC Technology Co., Ltd. 目录 集成电路趋势与测试 测试成本与经济性 本土化测试解决方案 目录 集成电路趋势与测试 测试成本与经济性 本土化测试解决方案 IC趋势对测试的挑战 --- 高速接口1 高速接口趋势（来源：ITRS） 计算、网络、消费电子中接口带宽不断提高 作为SOC集成的一个IP，GBps / GHz高速接口得到大量的应用 PCIe hyper-transport QPI GDDR DisplayPort DDR USB Infiniband SATA SAS Fiber channel Gigabit Ethernet XAUI SONET OUT OIF/CEI …… IC趋势对测试的挑战 --- 高速接口2 测试板上的Golden器件 Golden Device on Test Board 高速接口测试 测试模块 Test Modules 外部接线的回环 External Wired Loopback 辅以DFT的数字回环 DFT assist Digital Loopback 外部仪表 External Instrumentation 外部有源回环 External A