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低测试电流微电阻测量系统探究 　　摘 要：本文基于欧姆定律，介绍了低测试电流的微电阻测量系统的整体架构，深入探究了系统硬件、软件的设计思路与方法，具有一定的指导意义与参考价值 关键词：低测试电流；微电阻；测量系统 DOI：10.16640/j.cnki.37-1222/t.2017.03.259 0 引言 在实际工程应用过程中，通常都需要测定出具体高导电材料的电阻大小。并且，在进行科研工作时，电阻率的测量也是对相关材料结构、物态变化进行有效监测的重要方法。然而，因为大部分金属试样都受到几何尺寸限制的影响，电阻值都会较小，通常仅为几微欧甚至是更低，因此对其进行精确测量难度较大。目前，有关低测试电流的微电阻测量系统的研究已经成为了国内外学者关注的重点与热点 1 系统整体架构 一般来说，进行测量的总体思路为：将电流测的电压施加在被测电阻的两端，采用欧姆定律进行相关计算与分析，得出相应的电阻。因为电阻的阻值大小是微弱信号，因此在整个系统中不仅仅需要设计精度较高的电压电流采集系统，对测量时有可能造成噪音干扰以及相关误差的原因也应当认真分析，并尽可能避免其带来的影响。低测试电流的微电阻测量系统主要由变频电源模块、弱信号调理模块以及主芯片模块等构成，图1为整个系统的主要架构图 2 系统硬件设计 2.1 变频电源模块 所谓变频电源，即是把220 V的