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嵌入式实验报告4 026
嵌入式系统开发实验报告
实验四:I/O口实验
班 级: 电信092
姓 名: dxy
学 号: 090407201
指导教师: 李 静
实验日期: 2012年11月8日
实验四:I/O口实验
一、 实验目的
掌握S3C2410X 芯片的I/O 控制寄存器的配置;
通过实验掌握ARM 芯片使用I/O 口控制LED 显示;
了解ARM 芯片中复用I/O 口的使用方法。
实验设备
硬件:Embest EduKit-III 实验平台,ULINK USB-JTAG 仿真器套件,PC 机。
软件:μVision IDE for ARM 集成开发环境,WINDOWS98/2000/XP/NT。
实验原理
S3C2410X 芯片上共有71 个多功能的输入输出管脚,他们分为7 组I/O 端口。一个23 位的输出端口(端口A);两个11 位的输入/输出端口(端口B、H);四个16 位的输入/输出端口(端口C、D、E、G);一个8 位的输入/输出端口(端口F);
可以很容易的每组端口来满足不同系统配置和设计的需要。在运行程序之前必须对每个用到的管脚功能进行设置,如果某些管脚的复用功能没有使用,可以先将该管脚设置为I/O 口。
电路设计:
如上图所示,LED1-4 分别与GFP7-4 相连,通过GFP7-4 引脚的高低电平来控制发光二极管的亮与灭。当这几个管脚输出高电平的时候发光二极管熄灭,反之,发光二极管点亮。
实验内容
1. 准备实验环境
使用 ULINK USB-JTAG仿真器连接目标板,使用 Embest EduKit-III实验板附带的串口线,连接实验板上的 UART0和 PC 机的串口。
2. 串口接收设置
在 PC 机上运行 windows 自带的超级终端串口通信程序(波特率 115200、1 位停止位、无校验位、无硬件流控制) ;或者使用其它串口通信程序。
3. 打开实验例程
1) 拷贝实验平台附带光盘CD1\CD1_Basic_070615\Software文件夹到RealView MDK软件的安装目录的 Keil\ARM\Boards\Embest\目录下(如果已经拷贝,可跳过此步骤) ;
2) 使用 μVision IDE for ARM通过 ULINK USB-JTAG仿真器连接实验板,打开实验例程目录 4.2_led_test子目录下的 led_test. Uv2例程,编译链接工程;
3) 根据 ReadMe 目录下的 ReadMeCommon.txt 及 readme.txt 文件配置集成开发环境(工程默认已经配置正确) , 点击工具栏“ ” ,在 Option for Target对话框的 Linker 页中选择 RuninRAM.sct 分散加载文件,点击 MDK 的 Debug 菜单,选择 Start/Stop Debug Session 项或点击工具栏“ ” ,下载工程生成的.axf 文件到目标板的 RAM中调试运行;
4) 如果需要将程序烧写固化到 Flash 中,仅需要更改分散加载文件即可(慎用! ! !这一步的操作将会破坏 Flash 中原有固化程序,建议实验中不操作) 。在 Option for Target对话框的Linker 页中选择 RuninFlash.sct 分散加载文件, 重新编译工程, 点击 MDK 的 Flash菜单,选择 Download 烧写调试代码到目标系统的 Nor Flash 中,重启实验板,实验板将会运行烧写到 Nor Flash 中的代码;
5) 在工程管理窗口中双击 led.c 就会打开该文件,在 led_test()处设置断点后,点击 Debug菜单 Go 运行程序;
6) 观察当前 led 1206、led 1207 的状态,点击 Debug 菜单下的 Step over 或 F10键执行程序,观察 led 1206、led 1207的变化;
7) 结合实验内容和实验原理部分,掌握 ARM芯片中复用 I/O 口的使用。
实验结果
观察实验结果
在 PC 机上观察超级终端程序主窗口,可以看到如下界面:
boot success...
Embest Arm EduKit III Evaluation Board
Led Test Example
程序正确运行后,可以看到实验系统上的发光二极管LED1,LED2,LE
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