9晶粒尺寸和微观应力测定.pptVIP

第九章 晶粒尺寸和微观应力测定 位错、层错、微观应力、晶粒细化和晶粒内浓度的变化，都会使衍射线产生宽化现象，使衍射线形发生变化。通过衍射线形分析，找出描述线形的参量（如积分宽、半高宽、方差和线形的付里叶系数）与位错、层错、微观应力和晶粒大小等的关系，就能通过线形参量的测定，求出材料中的位错、层错等物理量。目前用于线形分析的方法有近似函数法、方差法、付里叶变换法、反复卷积法等，找出衍射线变宽的原因，然后扼要介绍用近似函数法求晶粒尺寸和微观应力。 纳米材料是指由极细晶粒组成、特征维度尺寸在纳米量级（1-100nm）的固体材料。纳米材料的许多物理性能、化学性能和力学性能等都与组成它的颗粒度或晶粒尺寸的大小有关。由于这种材料的尺度处于原子簇和宏观物体的交接区域，故而具有表面效应、小尺寸效应、量子尺寸效应和宏观量子隧道效应等，并产生奇异的力学、电学、磁学、光学、热学和化学等特性，从而使其在国防、电子、化工、冶金、航空、轻工、医药、核技术等领域中有重要的应用价值。所以，对纳米材料晶粒尺寸的测定与表征就显得非常重要。不过,对于纳米微粒的颗粒和颗粒度,存在概念上和尺寸定义上的差异问题,如从概念上分有晶粒、团聚体、一次颗粒和二次颗粒等,从定义上分有等当直径、投影面积直径等。 在不同的研究领域，对纳米材料也有不同的称呼，例如，材料科学家称之为超细颗粒，晶体学家称之为纳米晶粒，原子分子物理学家称之为团