光电传感器的实验研究.docx

光电传感器的实验研究摘要：本实验通过研究，了解光敏电阻的基本特性，测出它的伏安特性曲线和光照特性曲线；了解光敏二极管的基本特性，测出它的伏安特性和光照特性曲线；了解硅光电池的基本特性，测出它的伏安特性曲线和光照特性曲线；了解光敏三极管的基本特性，测出它的伏安特性和光照特性曲线；了解光纤传感器基本特性和光纤通讯基本原理。关键字：光电传感器伏安特性光照特性光纤通讯光敏传感器是将光信号转换为电信号的传感器，也称为光电式传感器，它可用于检测直接引起光强度变化的非电量，如光强、光照度、辐射测温、气体成分分析等；也可用来检测能转换成光量变化的其它非电量，如零件直径、表面粗糙度、位移、速度、加速度物体形状、工作状态识别等。光敏传感器具有非接触、响应快、性能可靠等特点，因而在工业自动控制及智能机器人中得到广泛应用。光敏传感器的物理基础是光电效应，即光敏材料的电学特性都因受到光的照射而发生变化。光电效应通常分为外光电效应和内光电效应两大类。外光电效应是指在光照射下，电子逸出物体表面的外发射的现象，也称光电发射效应，基于这种效应的光电器件有光电管、光电倍增管等。内光电效应是指入射的光强改变物质导电率的物理现象，称为光电导效应。大多数光电控制应用的传感器，如光敏电阻、光敏二极管、光敏三极管、硅光电池等都是内光电效应类传感器。当然近年来新的光敏器件不断涌现，如：具有高速响应和放大功能的APD雪崩式光电二极管，半导体光敏传感器、光电闸流晶体管、光导摄像管、CCD图像传感器等，为光电传感器的应用开创了新的一页。本实验主要是研究光敏电阻、硅光电池、光敏二极管、光敏三极管四种光敏传感器的基本特性以及光纤传感器基本特性和光纤通讯基本原理。1实验原理、伏安特性光敏传感器在一定的入射光强照度下，光敏元件的电流I与所加电压U之间的关系称为光敏器件的伏安特性。改变照度则可以得到一组伏安特性曲线，它是传感器应用设计时选择电参数的重要依据。、光照特性光敏传感器的光谱灵敏度与入射光强之间的关系称为光照特性，有时光敏传感器的输出电压或电流与入射光强之间的关系也称为光照特性，它也是光敏传感器应用设计时选择参数的重要依据之一。2实验装置和实验方法实验装置：DH-SJ3光电传感器设计实验仪由下列部分组成：光敏电阻板、硅光电池板、光敏二极管板、光敏三极管板、红光发射管LED3、接受管（包括PHD 101光电二极管和PHT 101光电三极管）、Ф2.2和Ф2光纤、光纤座、测试架、DH-VC3直流恒压源、九孔板、万用表、电阻元件盒以及转接盒等组成。实验时，测试架中的光源电源插孔以及传感器插孔均通过转接盒与九孔板相连，其它连接都在九孔板中实现；测试架中可以更换传感器板。 图1 DH-VC3 直流恒压源面板图 图2九孔板图3 测试架实验方法：实验中对应的光照强度均为相对光强，可以通过改变点光源电压或改变点光源到光敏电阻之间的距离来调节相对光强。光源电压的调节范围在0～12V，光源和传感器之间的距离调节有效范围为:0～200mm，实际距离为50～250mm。3实验结果1、光敏电阻特性实验1.1、光敏电阻伏安特性测试实验（1）按原理图4接好实验线路，将光源用的标准钨丝灯和光敏电阻板置测试架中，电阻盒以及转接盒插在九孔板中，电源由DH-VC3直流恒压源提供。（2）通过改变光源电压或调节光源到光敏电阻之间的距离以提供一定的光强，每次在一定的光照条件下，测出加在光敏电阻上电压U为+2V、+ 4V、+6V、+8V、+10V时5个光电流数据，即,同时算出此时光敏电阻的阻值。以后逐步调大相对光强重复上述实验，进行5～6次不同光强实验数据测量。（3）根据实验数据画出光敏电阻的一组伏安特性曲线图5。图4 光敏电阻伏安特性测试电路图5 光敏电阻的伏安特性曲线（注：距离为光源与光敏器件的距离。）1.2、光敏电阻的光照特性测试实验（1）按原理图4接好实验线路，将光源用标准钨丝灯和检测用光敏电阻置测试架中，电阻盒以及转接盒插在九孔板中，电源由DH-VC3直流恒压源提供。（2）从U=0开始到U =12V，每次在一定的外加电压下测出光敏电阻在相对光照强度从“弱光”到逐步增强的光电流数据，即：，同时算出此时光敏电阻的阻值，即：。（3）根据实验数据画出光敏电阻的一组光照特性曲线图6 图6 光敏电阻的光照特性曲线2、硅光电池的特性实验2.1、硅光电池的伏安特性实验（1）将硅光电池板置测试架中、电阻盒置于九孔插板中，电源由DH-VC3直流恒压源提供，RX接到暗箱边的插孔中以便于同外部电阻箱相连。按图7连接好实验线路，开关K指向“1”时，电压表测量开路电压Uoc，开关指向“2”短路，电压表测量R电压UR。光源用钨丝灯，光源电压0～12V（可调）