实验四 紫外-可见分光光度法测物质吸收及透过光谱.docxVIP

紫外-可见分光光度法测物质吸收和透过光谱姓名：孟超学号验目的了解和掌握紫外可见分光光度计的原理、结构和使用方法物质的吸收光谱、透射光谱和反射光谱的表征方法利用紫外-可见分光光度计测量半导体禁带宽度的原理及方法实验原理：紫外-可见分光光度计基本工作原理是当一定频率的紫外-可见光照射物质时，电子在不同能级之间发生跃迁，从而有选择地吸收激发光。随波长而变化的光谱，反映了试样的特征。测量光谱可以对物质进行定性和定量分析。紫外-可见分光光度计由光源、单色仪、样品架、检测器、计算机数据采集及处理系统组成。基于测量材料的透过和反射光谱，获得材料对紫外-可见光的吸收性能，从而进行材料的检测、研究和开发。它可以对多种材料进行分析，无论是透明、非透明、块状、薄膜还是粉末都可以方便地测量。利用紫外-可见分光光度计可以测试半导体或绝缘体材料的禁带宽度Eg。当光子的能量接近材料的带隙宽度时，损失受材料的本征吸收控制，吸收系数，薄膜样品厚度和透过率（T）之间满足：在本征吸收以上，吸收系数与入射光子能量的关系可以表示为实验数据处理由Cu2O薄膜透射光谱测禁带宽度原始数据：曲线图像得到截距Eg画图并拟合曲线后，可得到Eg=3.0596 ev,这与预期数值符合较好。由TiO2粉末反射光谱获得禁带宽度原始数据：曲线图像：得到截距：画图并拟合曲线后，可得到Eg=3.0404 ev,这与预期数值符合较