新概念动态测试 瞬态信息获取科学.ppt

激光差动速度干涉仪的公式 被测体移动的速度只和多普勒频率及光栅栅距有关，频率和栅距是可溯源的，因而这种方法是绝对校准法 冲击加速度传感器的校准 绝对法校准 用宽脉冲激励传感器，进行准静态校准 用差动激光速度干涉仪可以对高冲击传感器作绝对法（不是比对法）校准 由宽激励脉冲准则可以看出，传感器自振频率越低，需要的激励脉宽越宽，否则就会产生较大的校准误差 这是选择Hopkinson杆上激励脉宽的原则 把撞击Hopkinson杆的弹丸尽量作长，端部做成曲线尖头，可以产生较宽的应力波，但是很难超过150μs，如何达到宽激励脉冲准则要求是目前需要研究的课题 这样对于自振频率低的传感器，校准误差比较大 校准一例 冲击加速度测试仪的动态特性校准 动态测性校准是求传感器的频率响应特性 和灵敏度校准相反，是要激励起传感器的自激振动，因此激励脉宽要尽可能窄（对于窄脉冲激励），或前沿要尽可能陡峭，也即激励信号要有高的频率分量 Hopkinson杆是传递激励信号的部件，杆半径r和杆长l 制约杆能传递的最小的脉宽 对Hopkinson杆的要求 根据参考文献，有 式中： 为杆的半径； 为杆长； 为杆中音速 本研究室用了一个直径8mm，长200mm的端杆，按计算最小脉宽为6.08 μs 用电雷管作为激励源 对测量仪器的要求 测量仪器的响应频率应当有严格的要求，电荷放大器的通带应当在1MHz，记录仪的通带也应当足够高 以下是对BK8309的校准实例（略） Dynamic calibration of the sensor We take dynamic calibration of high impact sensor as the picture: Dynamic calibration of the sensor 问题 同样，Hopkinson杆上应变片上的信号能不能代表被校传感器的激励？ 现在正研究用激光干涉仪直接测量传感器作用面上的激励过程，以得到激励脉冲的宽度 冲击加速度测试系统的综合试验校准设备 冲击加速度测试系统的综合校准 用冲击加速度综合试验校准试验台进行校准，校准溯源由激光速度干涉仪测量安装传感器的基座的冲击响应过程，实现对测试系统在应用环境下的准静态校准 被校系统（传感器、电路模块）都承受与实际应用环境相同的恶劣环境力的作用 用另一台激光速度干涉仪测量电路模块在冲击加速度作用下的响应过程，同时可以考核电路模块缓冲器的作用效果 环境因子校准 两类环境因子 第一类 影响系统灵敏度，例如电子测压器的灵敏度温度系数 第二类 直接加入到输出信号 中，例如测弹底压力时的加速度信号 第一类环境因子的校准 放入式电子测压器 在不同温度环境下保温 然后在模拟膛压发生器中校准 得到不同温度的灵敏度系数 第二类环境因子的校准压力传感器加速度灵敏度系数的充压校准技术——压力球校准技术 测试系统存活性研究 新概念动态测试的研究内容 可靠性 测试系统的存活性和可靠性——可靠测试 高冲击条件下的存活性和可靠性研究 高压力条件下的存活性和可靠性研究 高温条件下的存活性和可靠性研究 油污条件下的存活性和可靠性研究 核辐射条件下的存活性和可靠性研究 测试系统存活性研究 存活性要求：每一次测试过程结束后，测试系统的关键部件保持完好，并且测试数据符合运动规律，才能够表明所进行的测试是有效的 高冲击测试系统：高冲击测试系统要能够在150000g过载的环境下存活 本征特性：对集成电路硅片、封装、电路板级的结构及灌封的本征特性研究，涉及到弹上电子装置的存活性 缓冲结构：对弹上电子装置的缓冲进行了大量研究 耐高温特性：集成电路超温限使用，隔热问题 存活性问题是能不能进行新概念动态测试的关键问题 可靠性问题是解决能不能每一次都有效扑获数据的问题，也投入了大量精力去研究 存活性设计 “回”结构，保护最核心部件， 做到即使弹体粉碎，测试装置也要完整，即使测试装置变形，存储信息的部件必需完好 高强度测试装置壳体，高强度灌封材料 可承受多层靶板冲击的缓冲结构，以允许位移换取减少冲击过载，只靠位移能减少冲击过载？ 可靠的耐高温及阻热结构+大热容量的吸热材料，确保核心电路不受高温损坏 本征特性试验研究 徐鹏的博士学位论文 如同裸片，用Hopkinson Bar作为激励源 晶振 EXO3（DIP8）16MHz 与冲击方向平行灌封可承受20万g冲击加速度，与冲击方垂直灌封可承受10万g冲击加速度 KSS（SMD8）20MHz 与冲击方向平行灌封可承受10万g冲击加速度 CPLD（XCR3064 VQFP44）无论封装或未封装，均可承受30万g以上冲击加速度而不损坏 徐鹏还作了晶振和CPLD的失效分析