第章示波测试和测量技术.ppt

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第章示波测试和测量技术

第3章 示波测试和测量技术 ★概述 3.1 示波测试的基本原理 3.2 通用示波器 3.3 取样技术在示波测量中的应用 3.4 示波器的多波显示 3.5 波形的存储和记忆 3.6 示波器的使用 概述 广义的说,示波器又是一台X-Y图示仪:只要能把两个有 关系的变量转化为电参数,分别加至示波器的X、Y通 道,就可以在荧光屏上显示这两个变量之间的关系→ 频谱分析仪:典型的信号频域分析仪器,主要用来分析信 号包含的频率成分。 数域分析领域的典型产品:逻辑分析仪又叫逻辑示波器。 这种仪器中经常要用荧光屏来显示多路数字信号的逻辑状 态和各信号之间的逻辑关系。 可见电子测量的几个基本领域都要用到示波测试和测量技 术。 示波测试和测量技术还是 多种电量和非电量测试和测量中 的基本技术。 3.1 示波测试的基本原理 3.1.1 CRT(阴极射线示波管) CRT主要由电子枪、偏转系统和荧光屏三部分组成,基本结构如下图所示。 ㈠ 电子枪 电子枪的作用是发射电子并形成很细的高速电子束,它由灯丝F、阴极K、栅极G1和G2和阳极A1、A2组成。 ㈠ 电子枪 聚焦系统: G2和阳极A1、A2电位均远高于K,它们与G1组 成聚焦系统。对电子束进行聚焦和加速。 电子束聚焦的原理是:电子从阴极K发射,经G1、G2、A1、 A2聚焦和加速后进入偏转系统。 ㈠ 电子枪 通过对A1进行调节可调节G2与A1和A1与A2之间的电位,调节它的电位器称为“聚焦”旋钮;调节A2电位的旋钮称为“辅助聚焦”。 ㈠ 电子枪 电子运动的方向与电极的形状、位置和所加电压的大小有关。 G1至G2和A1至A2电子束的主要趋势是聚拢;而由G2至A1电子束的主要趋势是发散。 电子在电子枪中的运动轨迹,即在聚焦系统作用下电子束 的形状如下图所示。 ㈡ 偏转系统 示波管的偏转系统由相互垂直的平行金属板组成,分别称为垂直偏转板和水平偏转板 。 ㈡ 偏转系统 当有外加电压作用时,偏转板之间形成电场;在偏转电场作用下,电子束打向由X、Y偏转板共同决定的荧光屏上的某个坐标位置——光点。 即Y偏转板上电位的相对变化只能影响光点在屏上的垂直位置, X偏转板只影响光点在屏上的水平位置,两对偏转板共同配合,才决定任一瞬间光点在屏上的坐标。 ㈡ 偏转系统 电子束在偏转电场作用下的偏转距离与外加偏转电压成正 比。以Y偏转板为例说明: 比例系数 ㈣ 先偏转后加速系统 由式(3-1)可见,若想使示波管的偏转更灵敏,可以考虑 增加偏转板的长度L和偏转板到荧光屏的距离s,亦可减小 偏转板间的距离b或降低第二阳极上的电压Va。 但经过分析可知,前几项的办法都不可取。 考虑降低第二阳极上的电压Va:但是Va的下降会影响电子 在Z方向的运动速度从而影响光点亮度,还会造成电子束 散焦;不过仔细分析发现电子速度高主要是在电子穿过偏 转板以后,特别是电子束打在屏上时应该高速。而在电子 穿过偏转板时,可以适当降低速度,则可使偏转灵敏度改 善。 为此,在偏转板至荧光屏之间再加一个后加速阳 极,使穿过偏转板的电子束在Z方向得到较大的 速度。 这种降低第二阳极上的电压Va并采用后加速阳极 的系统称为先偏转后加速系统 使用这种系统的示波管偏转因数可高达(5—6) mm/V,因此这种系统在现代示波管中的到了广泛 应用。 ㈢ 荧光屏 荧光屏将电信号变为光信号,是示波管的波形显示部分 。 ㈢ 荧光屏 在使用示波器时,应避免电子束长时间的停留在荧光屏的一个位置,否则将使荧光屏受损。因此在示波器开启后不使用的时间内,可将“辉度”调暗。 当电子束停止轰击荧光屏时,光点仍能保持一定的时间,这种现象称为“余辉效应”。把从电子束移去到光点亮度下降为原始值的10%,所延续的时间称为余辉时间。 3.1.2 图像显示的基本原理 ㈠显示随时间变化的图形 (1)Ux、Uy为固定电压时,有下面四种情况: 3.1.2 图像显示的基本原理 3.1.2 图像显示的基本原理 (2)X、Y偏转板上分别加变化电压,有下面三种情况: 3.1.2 图像显示的基本原理 3.1.2 图像显示的基本原理 (3)Y偏转板加 被测信号为正弦波 信号电压,X偏转板 加随时间变化的锯 齿波电压,荧光屏上 将显示出被测信 号随时间变化的 一个周期的波 形曲线。 3.1.2 图像显示的基本原理 ㈡显示任意两个变量之间的关系 比如:示波器两个偏转板上都加正弦电压时显示的

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