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高频讯号损失测试设备
ACCU-Prober
高頻訊號損失測試設備
因應訊號傳遞頻率越來越高 ，量測電
路板訊號損失越顯得重要。為了因應量產
測試 ，Intel發表SET2DIL測試方法 ，在使
用TDR與單端線路量測的方法下得到差分
線路的插入損失。IBM 開發SPP方法 ，同
樣利用TDR來量測線路的傳遞損失 ，並且
可以運用在單端線路或者是差分線路上的
量測。
特色 ACCU-Prober 是一個開放式的平台
提供量產測試完整的解決方案。
可供升級選配功能的平台
ACCU-Prober是一個平台 ，不僅僅只是
單一產品 ，可以提供如EBW 、
SET2DIL與SPP等等的測試功能。不需
要一次建置完成 ，可以依照測試需求選
配或升級來得到需要的測試功能。
貼近量產測試需求
ACCU-Prober 了解測試員的需求，提供
快速的量測結果、直覺式的操作介面、
方便量測的腳踏開關以及手持式的測試
握把。ACCU-Prober提供靜電防護裝置
來保護Tektronix 的TDR ，避免損壞昂貴
的測試模組。
來自高頻測試的先驅者
Introbotix 與SET2DIL 與SPP 的開發者
Intel與IBM有著長年的合作關係 ，同時
也是Intel 與IBM 認證的設備製造商。
ACCU-Prober就是在合作開發下的產物。
authorized reseller
總公司(台北) ：台北市中山區明水路672巷36號3樓 Tel: 886-2Fax: 886-2
得邁斯儀器股份有限公司Asia QTech Instrument Inc.得邁斯(上海) ：上海市園南二村76號604室 Tel: 86-21Fax: 86-21
得邁斯(安聯電子) ：珠海市吉大石花西路38號1019室Tel: 86-756-3881886 Fax: 86-756-3881801
測試能力與規格
1 ACCU-Prober Standard
ACCU-Prober Standard
規格
測試能力 單端、差分阻抗測試，傳遞延遲、速率，有效εr ，EBW （所有測試能力皆符合IPC TM650
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