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FPC异常分析报告20130205

AEM 亞洲電材股份有限公司  ////APLUS 昆山雅森電子材料科技有限公司 confidential AEM 亞洲電材股份有限公司  ////APLUS 昆山雅森電子材料科技有限公司 confidential * 覆蓋膜變色分析報告 ////APLUS 研 發處:蕭仁雄 日 期:2013/02/05 異常描述 ////APLUS 問題點: 廈門弘信客戶使用APLUS覆蓋膜AHICX025NMN製作FPC成品,CCL基材經蝕刻後覆貼CVL後,在進行熟化製程發生PI外觀異常變色現象。 (如圖一、圖二)所示 異常分析: 不良品取回進行SEM-EDS分析 外觀異常發現不規則區塊變色現象 圖一 圖二 * SEM-EDS分析 ////APLUS 分析點一 分析點二 分析點三 * SEM-EDS分析結果 ////APLUS 分析點一 Spectrum processing : Peak possibly omitted : 3.335 keV Processing option : All elements analyzed (Normalised) Number of iterations = 4 Standard : C CaCO3 1-Jun-1999 12:00 AM N Not defined 1-Jun-1999 12:00 AM O SiO2 1-Jun-1999 12:00 AM Na Albite 1-Jun-1999 12:00 AM Cl KCl 1-Jun-1999 12:00 AM Cu Cu 1-Jun-1999 12:00 AM Pt Pt 1-Jun-1999 12:00 AM Element Weight% Atomic% C K 12.17 28.83 N K 2.20 4.46 O K 12.08 21.48 Na K 12.22 15.12 Cl K 19.38 15.55 Cu L 27.91 12.50 Pt M 14.05 2.05 Totals 100.00 SEM-EDS分析結果 ////APLUS 分析點二 Spectrum processing : No peaks omitted Processing option : All elements analyzed (Normalised) Number of iterations = 4 Standard : C CaCO3 1-Jun-1999 12:00 AM N Not defined 1-Jun-1999 12:00 AM O SiO2 1-Jun-1999 12:00 AM Cl KCl 1-Jun-1999 12:00 AM Cu Cu 1-Jun-1999 12:00 AM Pt Pt 1-Jun-1999 12:00 AM Element Weight% Atomic% C K 30.37 66.12 N K 2.77 5.17 O K 2.28 3.72 Cl K 2.33 1.72 Cu L 53.83 22.15 Pt M 8.43 1.13 Totals 100.00 * ////APLUS 分析點三 Spectrum processing : No peaks omitted Processing option : All elements analyzed (Normalised) Number of iterations = 4 Standard : C CaCO3 1-Jun-1999 12:00 AM N Not defined 1-Jun-1999 12:00 AM O SiO2 1-Jun-1999 12:00 AM Cl KCl 1-Jun-1999 12:00 AM Cu Cu 1-Jun-1999 12:00 AM Pt Pt 1-Jun-1999 12:00 AM Element Weight% Atomic% C K 31.93 68.37 N K 3.15 5.79 O K 0.85 1.37 Cl K 2.85 2.07 Cu L 52.54 21.27 Pt M 8.68 1.14 Totals 100.00 SEM-EDS分析結果 * 結論 ////APLUS

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