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光电子器件集成测试系统单一来源采购征求意见公示
光电子器件集成测试系统
单一来源采购征求意见公示
高性能复杂制造国家重点实验室“光电子器件集成测试系统”项目采用单一来源方式采
购,该项目拟从北京路源光科技有限公司(美国Viavi 公司中国代理商)购买。现将有关情
况向潜在供应商征求意见。征求意见期限从2017 年6 月20 日起至2017 年6 月27 日止。
潜在供应商对公示内容有异议的,请于公示期满后两个工作日内以实名书面(包括联系
人、地址、联系电话)形式将意见反馈至中南大学资产与实验室管理处(联系电话
联系人:肖老师)。附:专家论证意见及专家姓名、工作单位、职称。
申请单位理由:
美国Viavi 公司生产的光电子器件集成测试系统mSWS 是业界唯一的光电子器件整体化
专业集成测试方案,可提供光电子器件的IL、RL、PDL、CW、BW、通带、串扰和平坦度等测
试。
mSWS 光电子器件集成测试系统具有专利认证的分布式架构,连接简便,使用灵活,扩
展性好,升级便利。它能以最高动态能力和最好的波长分辨率在5 秒内完成高端口数器件的
CL 波段性能分析,且绝对波长精度可以达到业界最高的±2pm。
考虑到美国 Viavi 公司在光电子器件测试方面具有超过 10 年的测试经验与积累,其
mSWS 光电子器件集成测试系统是目前业界唯一的专业高集成度测试方案,是各种光电子器
件特别是AWG、WSS 的业界测试方案的标杆。
综上所述,实验室拟购置的光电子器件集成测试系统只能从北京路源光科技有限公
司(美国Viavi 公司中国代理商)这一唯一厂商处采用单一来源的形式采购,采购程序符合
《中华人民共和国政府采购法》第三十一条第一款的规定,特申请:本次采购不进行招标,
由高性能复杂制造国家重点实验室与学校资产处一起直接同北京路源光科技有限公司进行
商务谈判。
2017 年6 月20 日
光电子器件集成测试系统采购专家论证意见汇总表
时间:2017 年 6 月 20 日
使 用 单 位 高性能复杂制造国家重点实验室
项目(设备)名称 光电子器件集成测试系统
项 目 金 额 132 万
专家论证意见1 美国Viavi 公司生产的光电子器件集成测试系统mSWS 是业界唯
一的光电子器件整体化专业集成测试方案,其具有专利认证的分布式架
构,能以最高动态能力和最好的波长分辨率在5 秒内完成高端口数器件
的CL 波段性能分析,且绝对波长精度可以达到业界最高的±2pm 。
目前市场上只有美国Viavi 公司的mSWS 光电子器件集成测试系
统为专业的高集成度测试方案,国内外多家大型研究机构、检测中心和
知名企业都在使用。
因此,高性能复杂制造国家重点实验室只能采用单一来源的形式。
专家姓名 刘德福 职 称 教授
工作单位 中南大学
专家论证意见2 美国Viavi 公司生产的光电子器件集成测试系统mSWS 可提供光
电子器件的IL、RL、PDL、CW 、BW、通带、串扰和平坦度等多种测
试,有助于开展更为灵活的科学研究。
目前国内已有多家单位在使用mSWS 光电子器件集成测试系统,
建议高性能复杂制造国家重点实验室尽早购置。
鉴于mSWS 光电子器件集成测试系统为市场上唯一的专业化集成
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