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JTAG 基础知识 中试部 主要内容 JTAG协议介绍 JTAG硬件结构及指令的介绍 JTAG测试的一般应用 JTAG协议介绍 IEEE1149.1的产生 1985 年由IBM 、ATT、 Texas Instruments、 Philips Electronics NV、Siemens、 Alcatel和Ericsson等公司成立的JETAG （Joint European Test Action Group）提出了边界扫描技术。1986年由于其它地区的一些公司的加入，JETAG改名为JTAG。 1988年JTAG提出了标准的边界扫描体系结构，名称叫Boundary-Scan Architecture Standard Proposal, Version2.0，1990年IEEE正式承认了JTAG标准，经过补充和修订以后命名命名为IEEE1149.1-90。同年又提出了BSDL（ Boundary Scan Description Lauguage ，边界扫描描述语言）。后来成为IEEE1149.1-93标准的一部分。 IEEE1149系列 IEEE 1149是一系列的国际测试标准它具体包含以下标准： IEEE1532系列 IEEE 1532标准是一个基于IEEE 1149.1的在板编程的新标准.标准的 名字为IEEE Standard for In-System Configuration of Programmable Devices. IEEE 1532标准旨在为JTAG器件的在板编程提供一系列标准 的专门的寄存器和操作指令，从而使得在板编程更为容易和高效。 它主要应用在FPGA 、CPLD 、PROM以及任意的支持 IEEE1532的可编程器件的在板编程。 支持IEEE 1532的芯片和不支持IEEE 1532的芯片相比较，在结构上而言就是 多了几个寄存器和两个内部控制信号：ISC_Eable和ISC_Done 。其ISC_Eable 指示器件可以进行编程，ISC_Done指示编程完毕。 JTAG硬件结构及指令介绍 边界扫描（BS)器件的构造 IEEE 1149.1标准将边界扫描硬件结构基本分为以下四个部分： 测试存取通道（TAP) 数据寄存器组（DR） 指令寄存器（IR） TAP控制器 TAP 的硬件结构 TAP的硬件结构如下： TAP信号介绍 TDI ：Test data input 无论是JTAG指令，还是JTAG数据都通过TDI输入。加到TDI的串行输 入数据是进入指令寄存器还是进入数据寄存器，则取决于TAP控制器的状态 在TCK上升沿，移进输入数据。 TDO ：Test data output 无论是JTAG指令还是JTAG数据都通过TDO输出，TAP控制器状态决定了是 将指令寄存器的数据还是数据寄存器里的数据串行地移出到测试数据输出端 TDO。TDO的数据输出发生在TCK时钟脉冲的下降沿，当没有数据在TDO输 出时TDO设置为不作用状态，通常为高阻态。 TRST* ：Test reset input 可选信号，即使没有此信号，当TMS保持5个时钟周期的高电平时，JTAG器件自动进 行测试逻辑复位。 TAP的16状态机 数据寄存器 必选的寄存器 边界扫描寄存器 BYPASS寄存器 可选的寄存器 用户寄存器 IDCODE寄存器 BS寄存器 IEEE1149.1标准推荐了从BC_1到 BC_7的几种标准的边界扫描单元的 设计结构。下面是BC_1类型的扫描 单元的结构图。 BYPASS寄存器 1Bit寄存器 IDCODE寄存器 32Bit寄存器 命令寄存器 必选的命令 BYPASS SAMPLE PRELOAD EXTEST 可选的指令 INTEST RUNBIST CLAMP IDCODE USERCODE HIGHZ BYPASS指令 在此指令下， 数据寄存器选择Bypass寄存器。 在芯片进入jtag模式时， 如果有Idcode寄存器， 默认数据寄存器为Idcode寄存器, 如果没有， 默认的寄存器为Bypass 寄存器。 Bypass 的指令为{111….11} 如果在初始状态下，默认的寄存器为Bypass 寄存器，TDO的输出应为“0” SAMPLE指令 数据寄存器选择BS寄存器； 能在器件正常工作时，对其引脚信号进行采样，而且这些采样数据可通过边界扫描寄存器串行移位输出。 PRELOAD指令 数据寄存器选择BS寄存器； 经常和SAMPLE指令连用， 组成SAMPLE/PRELOAD指令 在装载其余测试指令之前，在预置（PRELOAD ）指令下通过串行移位将数据锁存在边界扫描单元中。 EXTEST指令 数据寄存器选择BS寄存器； 工作时，器件