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北京云海纵横科技有限公司 微信公众号：NDT_001 F 扫描成像系统检测层状薄板 在现代无损检测技术中，超声成像是一种令人瞩目的新技术。由于人们对检测的要求已 不再是缺陷的有无，而是希望通过直观的图像显示缺陷的全貌，得到可靠的分析结果，因此 超声成像技术成为人们关注的焦点。应用广泛的成像方法有B 扫描和C 扫描。在检测复合 材料时，由于来自叠层和纤维的多个回波以及信号衰减的影响，设定阈值比较困难，常规的 C 扫描方法已经不能满足检测的要求。 F 扫描（特征扫描）采取特征检测的方法，利用计算机全波列采集检测信号，提取和存 储信号的多种特征，经信号处理后，按多种特征进行成像显示。利用这种检测技术可较好的 检测和评价复合材料的质量。本文研究的是利用 F 扫描系统检测复合层状薄板结合层质量 并进行成像。 1 特征成像及扫描系统 F 扫描（Feature Scan ）成像技术是本世纪80 年代才发展起来的新技术，该方法最早由 美国空军工程中心于1980 年提出并加以利用[1]，主要用于复合材料的检测与评价[2]。特征 扫描包括两方面的特征，一是超声波波形的特征，主要指超声波形上升时间、下降时间、脉 冲周期和频谱特性等；二是缺陷的特征，包括缺陷的类型，形状，大小等。F 扫描的特点是 检测结果定量化，全部记录和存储检测信息，检测结果具有可识别性。 F 扫描集成了B 、C 扫描的优点和功能，其检测能力远远超过B 、C 扫描，除了传统扫 描功能外，还能对检测信号进行频谱分析和数字滤波；通过对各种特征量的提取和重构，可 进行超声层析等；所有检测信息都能自动存储在计算机当中，以供详细分析和复查。 F 扫描技术的关键是待测工件缺陷特征的研究、提取和确定。需要专用换能器提取检测 时的波形信息，进行检测信号的全波列采集，并存储在计算机里，通过计算机完成信号的处 理，并以图像方式显示 各种特征参量。 系统主要由自动扫 查、超声发射接收、程 控放大和信号采集、计 算机和软件及专用探头 等组成，整个系统由计 算机统一管理，工作流 程为：同步逻辑电路控 制超声发射接收电路以 保证超声信号的触发、 采集与机械运动同步， 图1 F 扫描成像系统框图 超声发射接收电路激励 并接收专用超声换能器的信号，经过滤 波、程控放大后进入高速数据采集卡进 行全波列采集，采集信号经过处理后送 入计算机存储，最后由超声成像软件进 行实时成像。 2 聚焦探头 图2 切趾探头的波形及频谱 北京云海纵横科技有限公司 微信公众号：NDT_001 F 扫描成像系统的检测精度取决于检测探头的灵敏度和分辨率。针对层状薄板的特点， 专门制作了各种形式的聚焦探头，主要有通过声透镜聚焦的探头（聚束探头）、曲面探头（聚 焦探头）、切趾探头。聚束探头和聚焦探头表面的振动成高斯分布从而使近场变得均匀，在 远场可获得较大的声束精度[3]。切趾探头是通过改变正负极的相对面积使探头的振动成高 斯分布，从而获得需要的声场特性[4]。图2 是用制作的切趾探头探测层状薄板时的接收波 形及频谱图，主频在12MHz。 3 复合薄板的扫描检测 层状薄板的厚度在2mm 左右，板中有两个结合层，距上表面分别为0.6mm 和1.4mm。 板中存在的主要缺陷是分层，这种缺陷可发生在上结合层和下结合层处，检测的目的是检测 分层并给出分层的深 度。针对这样的检测要 求，制作的人工样品中 包含有三个上表面分层 缺陷和三个下表面分层 缺陷，最小的缺陷直径 是1.2mm。 复合薄板的检测过 程是：打开F 扫描软件， 调整探头的位置，使 A 显示波形中的上下界面 回波比较清楚，确定显 像方式（深度或幅值） 及闸门，确定各种辅助 图3 人工样品的扫描像图和波形 选项如声速、扫查间距、 扫查速度等，然后进行扫查，在扫查的同时给出工件的 像。图3 是人工样品的深度像图（上图）和某一点的时 域波形图（下图），在深度像图中闸门范围内不同深度用 不同颜色表示，红色缺陷表示上结合层缺陷，黄色缺陷