薄膜干涉劈尖干涉牛顿环.ppt

* 薄膜干涉 劈尖干涉牛顿环 单色光以入射角 i 从折射率为 n1介质 进入折射率为n2 的介质， i ① ② 一、薄膜干涉 d i r ① ② i 在薄膜的上下两表面产生的反射光 ①光、② 光，满足相干光的 几 个条件，能产生干涉，经透镜汇聚，在焦平面上产生等倾干涉条纹。 从焦点 P 到 CD 波面，两条光的光程差为 0，则在未考虑半波损失时① 光、② 光的光程差为： d i i r ① ② i 由折射定律 考虑半波损失： i ① ② 光程差不附加 光程差附加 未考虑半波损失时 光程差 干涉的加强减弱条件: 加强 减弱 1.如果照射到薄膜上的是平行入射光，入射角一定，则不同的薄膜厚度就有不同的光程差，也就有不同的干涉条纹。这种一组干涉条纹的每一条对应薄膜一厚度的干涉，称为等厚干涉。 2.如果光源是扩展光源，每一点都可以发出一束近似平行的光线，以不同的入射角入射薄膜，在反射方向上放一透镜，每一束平行光会在透镜焦平面上会取聚一点。当薄膜厚度一定时，在透镜焦平面上每一干涉条纹都与一入射角对应，称这种干涉为等倾干涉。 用同样的办法可以推导透射光的光程差。 讨论： 光学镜头为减少反射光，通常要镀增透膜。 二、薄膜干涉的应用 1.增透膜 在光学器件中，由于表面上的反射与透射，在器件表面要镀膜，来改变反射与透射光的比例。可有增透膜，增反膜。 例如：较高级的照相机的镜头由 6 个透镜组成，如不采取有效措施，反射造成的光能损失可达 45%~90%。为增强透光，要镀增透膜，或减反膜。 复杂的光学镜头采用增透膜可使光通量增加 10 倍。 光学镜头为减少透光量，增加反射光，通常要镀增反膜。 使两束反射光满足干涉加强条件： 2.增反膜 由于反射光最小，透射光便最强。 增反膜是使膜上下两表面的反射光满足干涉相长条件。 增透膜是使膜上下两表面的反射光满足减弱条件。 例:为增强照相机镜头的透射光，往往在镜头（n3=1.52）上镀一层 MgF2 薄膜（n2=1.38），使对人眼和感光底片最敏感的黄绿光 ? = 555 nm 反射最小，假设光垂直照射镜头，求：MgF2 薄膜的最小厚度。 解： 不考虑半波损失。 k=1,膜最薄 用单色平行光垂直照射玻璃劈尖。 由于单色光在劈尖上下两个表面后形成 ①、 ② 两束反射光。满足干涉3个条件，由薄膜干涉公式： ① ② 干涉条纹为平行于劈棱的一系列等厚干涉条纹。 三、劈尖干涉 有： 加强 减弱 1.劈棱处 光程差为 劈棱处为暗纹 2.第 k 级暗纹处劈尖厚度 由 dk=0, 3.相邻暗纹劈尖厚度差 4.相邻条纹间距 这个结论对明纹、暗纹均成立。 劈尖干涉条纹是从棱边暗纹起，一组明暗相间的等间隔直线条纹。 2）.检测待测平面的平整度 由于同一条纹下的空气薄膜厚度相同，当待测平面上出现沟槽时条纹向左弯曲。 待测平面 光学平板玻璃 1）.测量微小物体的厚度 将微小物体夹在两薄玻璃片间，形成劈尖，用单色平行光照射。 由 有 5.劈尖干涉的应用 例.在 Si 的平面上形成了一层厚度均匀的 SiO2 的薄膜，为了测量薄膜厚度，将它的一部分腐蚀成劈形（示意图中的 AB 段）。现用波长为 600.0nm 的平行光垂直照射，观察反射光形成的等厚干涉条纹。在图中 AB 段共有 8 条暗纹，且 B 处恰好是一条暗纹，求薄膜的厚度。（ Si 折射率为 3.42， SiO2 折射率为 1.50 ）。 SiO2膜 解：上下表面反射都有半波损失，计算光程差时不必考虑附加的半波长，射膜厚为 e B处暗纹 B 处第 8 条暗纹对应上式 将一块半径很大的平凸镜与一块平板玻璃叠放在一起。 ① ② 三、牛顿环 牛顿环 该干涉条纹是中心为一暗点，明暗相间逐渐变密的一系列同心圆。 用单色平行光垂直照射，由平凸镜下表面和平板玻璃上表面两束反射光干涉，产生牛顿环干涉条纹。 ① ② 设 加强 减弱 ①、 ②两束反射光的光程差附加 项。 中心 dk=0, 为暗斑。 1. 与 间的关系 其它位置 加强 减弱 2.牛顿环半径 明环由 暗环由 条纹不是等距分布。牛顿环中心为暗环，级次最低。离开中心愈远，光程差愈大，圆条纹间距愈小，即愈密。 3.牛顿环应用 检测光学镜头表面曲率是否合格 将玻璃验规盖于待测镜头上，两者间形成空气薄层，因而在验规的凹表面上出现牛顿环，当某处光圈偏离圆形时，则该处有不规则起伏。 验规