ICP-MS法测定高岭土中微量成分及杂质元素的研究.pdfVIP

第29卷，第2 期 光谱学与光谐分析 Vol. 29.No. 2.pp504-508 200 9 年 2 月 Spectroscopy and Spectral Analysis Febn聪ry. 2009 ICP-MS 法测定商岭土中微量成分及杂质元素的研究 黄冬根，周文斌，刘 霄，全水清，何来键，万金保 商扇大学环编科学与工程学院，南昌大学敏育部部阳糊糊泊生态与生物资源利用实碰盒，江西南昌 33∞31 擒 11 采用电感捕食等离子质谱技术，研究了商岭士中微量细分h仙，丁iÜz. 1: 0. NazO. Cao，峙。 及阳. Cr , Mn. As , Cd. Cu 等杂质兀萦俞璋的质谱分析方法。样品级 HNOa-HF 低温榕解3臣清亮脯; Si 以 凹氟化硅的形式从溶液中挥发，消除了 Si 基体的干扰，继镇加热辈子.(1十3)HN仙搜取。在钱加入内栋元 素4S 段; 115 In.刷 TI. 果用内标法进行校正，有效克服了罄体效应、接口娘应及仪棉被动所产生的影响，通过 优化仪器工作参数，选择适当的待测元素的问{îL素，有效地克服了因质谱干扰所带来的影响.讨论了分析样 品的制备过程中温度对碑元素测定的影响。该方法的加标剧收率最95. 0%~101. 0% ，相对标准偏差(RSm 是 1.1%-2.01%。对高岭土标准物质(编号 GBW03122)进行了测定，测定结果与标准值相吻合. ii衷方法具 有快速、简便、准确等特点，可用于高令士及陶怪产品中微量成分及杂质兀素的含量分析. 提键词 ICP-~侣z 离岭土p 陶程;微量组分，杂质元素p 分析、 中团分提号:例57.6 立献标识码: A 001: 10. 3964jj. iss也 lOOOHOS93(2009)02-0504咽 对元素测定的影响及其溶解攥发温度对As测定的影响.用 HF酸分离南岭土中的 Si. 以4S Sc. 11s In. 201 Tl 为内标，来用 引言 内标校正法消除干扰。通过与商岭土标准物质(GBW03121) 商岭土是一樊铝硅酸盐，广泛应于陶蝇、造纸、颜料、 分析相对照验证了方醋的可行性、幢出限、回收率、测量的 橡脏、水泥、塑料、催化剂(1) 、净水荆(2) 及其他含幅产品制 准确度，结果令人满意.建立的方怯可为商岭士在果矿、选 造[3 ， 4J 。高岭土的微最组分如 Fe. KzO/NazO 对产品的主 矿过程中质量控制提供保证，并适用于陶磁产品中指.m元素 体性能有较大影响，尤其是熏金属如质元素对产品的卫生指 分析. 标会产生严重影响.高岭二七中微撒组份及杂质元素食戴的准 确测定，对南岭土的使用鹉着3最大作用[5) • 1 实验部分 包生祥等[6J 用 X射线荧光法分析了高龄土中主量、微量 及杂质含量，但检出限商，并带根据主含量进行部准样品配 1.1 ~要仪器及工作黛件 制F 干楠果等[1] 用质子激发X 射线荧光分析法对中国古玻璃 1. 1. 1 主要仪器 表团化学成分进行了分析，凌雪[町、杨益民等[的也来用质子 本文使用美国 Agilent 公词生产的Agilent 75∞i 型 ICP­ 撒发X 肘钱技术(EDX即)分析古陶黯表面成分，目水摞 MS质谱仪.主机为Agilent 75∞i ICP-MS. 雾化器为Agilent 等[10]