X射线荧光光谱法测定铝锂合金中多元素含量.pdfVIP

冶金分析，2014 ， 34(10);52- 56 Metallurgical Analysis .20 14 .34 (10) ; 52 56 001; 10. 13228/j . issn . 1000-7571. 20 1l. 10. 010 X 射线荧光光谱法测定铝徨合金中多元素含量 四伦宫，邹德霜，代以春， 江学强， 沈时青，杨金芳，林良栋 〈中国工程物理研究院机械制造工艺研究所.四川绵阳 621 900) 摘 要:选择铭仪合会系列标样建立校准曲线，通过基本参数法校正基体效应和光谱干扰，给 采表明，校正后多数元余校准曲线的标准偏差(SD) 和品质因子(10交待足小，曲线的离散皮 降低，线性关系得到较大改善，由此建立了波长色散 X 射线荧光光讲法测定铅仪合会中 Mg、 Si 、 Ti、 Cr、 Zr、 Fc、 Cu ， Zn、 Mn 等 9 种元素含量的新方法。 各Jt余的检佳， F民均低于 4. 5 μg/g。 对 E986 铭仪合会标准样品进行精密度考察，各元素测定给来的相对标准偏差均低于 0. 9% ; 对铭钮合会实际样品进行分析，测定位与温法及火花源原子发射尤谱法的坝IJ 定位吻合较好，能 够满足铅仪合会中~元素的检测妥求。 关键词 : X 射线荧光光讲法;铭银合会;基体效应校正;元素分析 文献标志码: A 文章编号: 1000-7571( 2011 ) 1 0-0052一05 中图分类号: 0657. 34 铝理合金作为一种低密度、高弹性模最、高比 1 实验部分 强度和比刚度的铝合金，L!.广泛应用于航空航天 领域IE1. 铝铿合金的成分对其性能影响甚大，在 1. 1 仪器及测量条件 Axios 波长包散 X 射线荧光光谱仪〈荷兰帕 铝铿合金的研制、生产、应用过程中，必须对其成 分进行准确分析，以保证材料质盘。目前铝合金 纳科公司)。 成分的检测方法主要有火花源原子发射光谱 端窗 Rh 靶 X 射线管:最大功率 4 kW; Su- 法(2] 、电感制合等离 F体发射光谱法E叫、原子吸 perQ 4 . 0 定社分析软件;样品杯面罩: 127 mm; 川、满足法[1J 和分光光度法[8] 等，这些方 收光谱法 P10 气体流吐: 1. 0 L/1飞;台式辛床。各元素的测 法有的对自含此元京的泪IJ 寇准确度不够高，有的 量条件见表 1 . 只能进行单元素分析， 分析效率低，因此开发一种 1. 2 标准样品的选择和样品制备 新的测定侣钮含金成分的方法具有十分重要的意 铝合金未知1 样1日与标准样品的牌号和金属微 义。 X 射线荧光光i普法(XRF) I:U 于具有制样方法 观结构如果不一致会对分析钻枭造成较大的误 简单、分析元素含品也因宽、准确度高、分析速度 差，这种误差很难用数学基体校正方法进行改 快等优点，已广泛应用于冶金仔11] 、地质(12-14] 、环 善[161 ，因此欲用一套谁合标样建立一种适用于各 境(15] 等各个领域的元京分析，虽然采用 XRF 分 种牌号铝合金成分分析的 XRF 法则难以获得较 析某些铝合金的成分已有报道叫 ，但对铝铿合 高的准确度.本实验选用编号为 E982 、 E983