电-热应力对gan基白光led可靠性的影响 - 发光学报.pdfVIP

第３７卷　第１期 发　光　学　报 Ｖｏｌ３７ Ｎｏ１ ２０１６年１月 ＣＨＩＮＥＳＥＪＯＵＲＮＡＬＯＦＬＵＭＩＮＥＳＣＥＮＣＥ Ｊａｎ．，２０１６ 文章编号：１０００７０３２（２０１６）０１０１２４０６ 电热应力对 ＧａＮ基白光ＬＥＤ可靠性的影响  邹水平，吴柏禧，万珍平 ，唐洪亮，汤　勇 （华南理工大学 机械与汽车工程学院，广东 广州　５１０６４０） 摘要：研究了电流和温度应力因子及其共同作用时对ＧａＮ基白光ＬＥＤ可靠性的影响，并从ＬＥＤ结构方面探 究了各应力下ＬＥＤ的失效机理。结果表明，以电流作为加速应力时，荧光粉退化为其主要的失效方式，同时 ＬＥＤ出光的相关色温上升，红色比减少；在热应力下，主要是ＬＥＤ芯片结构发生变化，峰值波长蓝移，光通量 衰减，同时支架出现老化现象。电流和温度应力共同作用时，温度应力对ＬＥＤ光通量的影响大于电流应力。 电热应力下的光通量衰减大于电、热应力单独作用时的衰减之和，即电热应力作用时，光衰不具有线性叠 加性。 关　键　词：ＬＥＤ；电流应力；温度应力；可靠性；失效分析 中图分类号：ＴＮ３０６　　　文献标识码：Ａ　　　ＤＯＩ：１０．３７８８／ｆｇｘ０１２４ ＥｆｆｅｃｔｏｆＣｕｒｒｅｎｔｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅＳｔｒｅｓｓｏｎＴｈｅＲｅｌｉａｂｉｌｉｔｙｏｆＧａＮＬＥＤ  ＺＯＵＳｈｕｉｐｉｎｇ，ＷＵＢｏｘｉ，ＷＡＮＺｈｅｎｐｉｎｇ，ＴＡＮＧＨｏｎｇｌｉａｎｇ，ＴＡＮＧＹｏｎｇ （ＳｃｈｏｏｌｏｆＭｅｃｈａｎｉｃａｌａｎｄＡｕｔｏｍｏｔｉｖｅＥｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ，ＳｏｕｔｈＣｈｉｎａＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙｏｆＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙ，Ｇｕａｎｇｚｈｏｕ５１０６４０，Ｃｈｉｎａ）） ＣｏｒｒｅｓｐｏｎｄｉｎｇＡｕｔｈｏｒ，Ｅｍａｉｌ：ｚｈｐｗａｎ＠ｓｃｕｔ．ｅｄｕ．ｃｎ Ａｂｓｔｒａｃｔ：ＴｈｅｅｆｆｅｃｔｓｏｆｃｕｒｒｅｎｔｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅｓｔｒｅｓｓｏｎｔｈｅｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙｏｆＬＥＤｗｅｒｅｉｎｖｅｓｔｉｇａｔｅｄ，ａｎｄ ｔｈｅｆａｉｌｕｒｅｍｅｃｈａｎｉｓｍｗａｓａｎａｌｙｚｅｄｆｒｏｍｔｈｅｓｔｒｕｃｔｕｒｅｏｆＬＥＤ．Ｉｔｉｓｆｏｕｎｄｔｈａｔｔｈｅｃｕｒｒｅｎｔａｎｄｔｅｍ ｐｅｒａｔｕｒｅｈａｖｅｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉｎｆｌｕｅｎｃｅｓｏｎｔｈｅｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙｏｆＬＥＤ．ＷｈｅｎＬＥＤｓａｒｅａｐｐｌｉｅｄｃｕｒｒｅｎｔａｃｃｅｌｅｒ ａｔｉｎｇｓｔｒｅｓｓ，ｔｈｅｄｅｇｒａｄａｔｉｏｎｏｆｐｈｏｓｐｈｏｒｉｓｔｈｅｍａｉｎｆａｉｌｕｒｅｍｏｄｅｗｈｉｃｈｃａｎｃａｕｓｅｔｈｅｉｎｃｒｅａｓｉｎｇｏｆ ｃｏｒｒｅｌａｔｅｄｃｏｌｏｒｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅａｎｄｄｅｃｒｅａｓｉｎｇｏｆｒｅｄｒａｔｉｏ．ＷｈｅｎＬＥＤｓａｒｅａｐｐｌｉｅｄｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅａｃｃｅｌ ｅｒａｔｉｎｇｓｔｒｅｓｓ，ｔｈｅｓｔｒｕｃｔｕｒｅｏｆｃｈｉｐｗｏｕｌｄｃｈａｎｇｅ，ｗｈｉｃｈｌｅａｄｓｔｏｔｈｅｂｌｕｅｓｈｉｆｔｏｆｐｅａｋｗａｖｅｌｅｎｇｔｈ． Ｉｎａｄｄｉｔｉｏｎ，ｔｈｅｓｔｒｕｃｔｕｒｅｏｆｈｏｕｓｉｎｇａｌｓｏａｐｐｅａｒｓａｇｉｎｇａｔｈｉｇｈｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ．Ｔｈｅｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅｓｔｒｅｓｓ ｈａｓｇｒｅａｔｅｒｅｆｆｅｃｔｏｎｔｈｅｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙｔｈａｎｃｕｒｒｅｎｔｓｔｒｅｓｓｗｈｅｎｔｈｅｃｕｒｒｅｎｔｓｔｒｅｓｓａｎｄｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅｓｔｒｅｓｓ ａｒｅａｐｐｌｉｅｄｔｏｇｅｔｈｅｒ．Ｔｈｅａｔｔｅｎｕａｔｉｏｎｏｆｌｕｍｉｎｏｕｓｆｌｕｘｕｎｄｅｒｃｕｒｒｅｎｔｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅｓｔｒｅｓｓｉｓｇｒｅａｔｅｒ ｔｈａｎｔｈｅｓｕｍｏｆｃｕｒｒｅｎｔａｎｄｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅｓｔｒｅｓｓｗｏｒ