原子荧光光谱法测定地质样品中As、Sb、Bi、Hg——需要注意的问题及解决方法.pdfVIP

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原子荧光光谱法测定地质样品中As、Sb、Bi、Hg——需要注意的问题及解决方法.pdf

第23 卷第4 期 地质与资源 Vol. 23 No.4 2014 年8 月 GEOlβGYAND RESOURCES Aug. 2014 文章编号:1671-1947(2014)0午0392-03 中图分类号:P575.4 文献标tR码:A 原子荧光光谱法测定地质样晶中的、Sb、 Bi,Hg 一一需要注意的问题及解决方法 杨柳,李丽君,唐振,伍月 (沈阳地质矿产研究所/中国地质调查局沈阳地质调查中心,辽宁沈阳 11∞34) 摘 要:通过总结实际工作及查阅文献,分析了样品制备、酸度、翻氢化御浓度对As、 Sb , Bi 、Hg 测定的准确性及灵敏度的影响,确定了 仪器测定过程中负高压、载气流量、原子化器高度及温度、元素干扰对测定结果的影响,并总结了在日常测定过程中仪器故障排除、测 量误差的控制及测量过程中潜在的问题及解决方法. 关键词:原子荧光光谱法;地质样品;影响因素;故障排除;潜在问题及解决方法 PROBLEMS AND SOLUτ10NS IN MEASUREMENT OF Aø, Sb, Bi AND Hg IN GEOIρGICAL SAMPLES BY HιAFS YANG Liu , U Li-jun, TANG Zhen, WU Yue (Shenyang Instiluu 0.刊eology and Mineral Resources , CGS, Shenyang 11∞34, China) Abstract: B幽ed on practical work and related literature, the paper analyzes 由e effects of sample prep缸ation, acidity and concentration of potassium borohydride on accuracy and 肥nsitivity of measurement of A龟 Sb, Bi and Hg by hydride generation-atomic fluorescence spectrome町 (HιAFS), confirms the effects of ωme influencing factors such as negative high-voltage, carrier flow, atomizer height, temperature and element interference on test result, and summarizes troubleshooting methods for instruments, the way oftesting error-control and other potential problems and solutions in ordinary test process. Key words: HG-AFS; geological sample; influencing factors; trouble shooting; potential problem and solution 氢化物-原子荧光光谱法(HιAFS)因其灵敏度 1 样晶制备环节 1.1 样晶制备 高、干扰少等优点[1] ,成为环境及地质样品中呻、锦、 样品制备是保证测试结果准确性及稳定性的重要 钻、录等元素较为理想的分析手段之一.在测试过程 环节,既要保证样品分解完全,又要保证As、Sb、 Bi、悔 中待测元素

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