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例子2 GSM移动台功率测量不确定度计算 仪表：E5515C 、信号源、功率计、控制箱 测量方式： 移动台 控制箱 E5515C 信号源 功率计 已知条件： Measurement accuracy at RF IN/OUT port between +20 and +55 ℃ (Single slot and multislot at the same level ): ±0.27 810 to 960 Typical measurement repeatability: ± 0.05 dB VSWR at RF IN/OUT: 1.14:1 for 700 to 960 MHz，则反射系数为0.065 假设被测件输出端口反射系数：0.6 假设控制箱端口驻波比：1.1:1，衰减值：8dB，反射系数0.048 假设校准引入的不确定度：0.1dB 具体计算： 失配引入的不确定度： 1、被测件到控制箱 2、被测件到综测仪 3、控制箱到综测仪 综合的失配不确定度： 具体计算： 校准引入的不确定度： 综测仪精度引入的不确定度： 电压稳定性引入的不确定度： A类不确定度： 合成不确定度： 扩展不确定度： 例子3 GSM移动台杂散测量不确定度计算 仪表：E4440A、信号源、功率计、控制箱 测量方式： 移动台 控制箱 E4440A 信号源 功率计 具体计算注意事项 E4440A在不同频率时的频率响应不同 E4440A在不同频率时端口的驻波比不同 在计算杂散测量不确定度时不同频段所使用的滤波器等不同，应使用不同的控制箱参数 思考 1、温度变化对被测件工作频率的影响如何体现？ 2、不确定度与被测件的关系？ 3、仪表在工作时的温度？ 4、在被测件不稳定的情况下怎么来评价A类不确定度？ 5、测试结果在边界的判定问题 6、产品合格性 关于温度对被测件工作频率影响的体现 体现在测量结果，而不是体现在不确定度 被测件 工作频率 测量结果 不确定度 温度1 900MHz 900.1MHz 1KHz 温度2 899.5MHz 899.6MHz 1KHz 温度1被测件1 测试系统中间件 测量结果1 温度2被测件1 测试系统中间件 测量结果2 结论：温度影响被测件频率的测量结果。对于不确定度，由于仪表给出测量精度时的温度范围足够，因此不影响测量结果的不确定度 侧证：测试系统在增加铷钟时测量不确定度会优化 思考 1、温度变化对被测件工作频率的影响如何体现？ 2、不确定度与被测件的关系？ 3、仪表在工作时的温度？ 4、在被测件不稳定的情况下怎么来评价A类不确定度？ 5、测试结果在边界的判定问题 6、产品合格性 不确定度的评定可以与该被测件无关，也可以与该被测件有关 有关：不确定度只用于该被测件 被测件端口驻波比等系数特别给出 A类不确定度（针对该被测件的） 被测件1 测试系统中间件 测量仪表 不确定度的评定可以与该被测件无关，也可以与该被测件有关 无关：通用系统不确定度 被测件1 测试系统中间件 测量仪表 被测件N 测试系统中间件 测量仪表 … … … … … … 结论：系统测量不确定度与被测件无关，只与后端（中间件、测量仪表）相关 结果：评定的不确定度会比实际的高 原因：被测件驻波比给的比较高，基本能包括所有被　测件的情况 思考 1、温度变化对被测件工作频率的影响如何体现？ 2、不确定度与被测件的关系？ 3、仪表在工作时的温度？ 4、在被测件不稳定的情况下怎么来评价A类不确定度？ 5、测试结果在边界的判定问题 6、产品合格性 30度以上 我们经常谈到的测试环境指的是实验室的温度 但是仪表在开启10分钟以后，工作温度应该在30度以上 从侧面也可以得到一些佐证：仪表Data Sheet中提供的测量精度，一般在温度20-55度之间 思考 1、温度变化对被测件工作频率的影响如何体现？ 2、不确定度与被测件的关系？ 3、仪表在工作时的温度？ 4、在被测件不稳定的情况下怎么来评价A类不确定度？ 5、测试结果在边界的判定问题 6、产品合格性 无法评定 无法满足A类评定中的条件，即测量的条件变化太大 思考 1、温度变化对被测件工作频率的影响如何体现？ 2、不确定度与被测件的关系？ 3、仪表在工作时的温度？ 4、在被测件不稳定的情况下怎么来评价A类不确定度？ 5、测试结果在边界的判定问题 6、产品合格性 完全满足 测量结果＋不确定度＜上限 测量结果－不确定度＞下限 完全不满足 测量结果－不确定度＞上限 测量结果＋不确定度＜下限 存在疑问 其他情况 结论： 温度对被测件的影响体现在测量结果上，而非不确定度上 测量结果是对特定被测件测量得到的结果，是个体化体现 测量不确定度可以是对该特定被测件的不确定度，也可以是对所有被测件适用的一个不确定度，因此