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第 26卷第 6期 强 激 光 与 粒 子 束 Vo1.26,NO.6
2014年 6月 HIGH POW ER LASER AND PARTICLE BEAM S Jun.。2014
高功率径 向线阵列天线充气区域气体泄漏特性
何定全, 李相强, 刘庆想
(西南交通大学 物理科学与技术学 院,成都 610031)
摘 要: 针对高功率径向线阵列天线在无压差工况下的泄漏模型,采用 “当量面积”法对密封结构等效处
理,利用基于有限体积法 的仿真软件对泄漏过程进行数值模拟 ,并通过气密性实验验证 。研究表 明数值模拟和
实验趋势一致 ,证明数值模拟 的正确性 ,且具有速度更快、更节约成本及能获得 内部气体参数分布等特点。
关键词 : 阵列天线 ; 泄漏 ; 当量面积 ; 有限体积法
中图分类号 : TB711 文献标志码 : A doi:10.11884/HPLPB201426.063035
高功率微波辐射技术是高功率微波的重要研究内容之一。高功率径向线阵列天线在保证 良好辐射的前提
下,实现了高功率容量 、高效率 、小型化和圆极化定 向辐射口]。在实际应用中,通过对探针耦合区域充惰性气
体并进行密封处理来提高功率容量 。任何形式的密封都会存在一定泄漏,而气体泄漏特性直接决定着充气 区
域的场强击穿阈值 ,影响天线功率容量口],因此对阵列天线充气区域气体泄漏特性进行研究具有重要意义 。
目前 ,国内外对气体泄漏特性进行了较多研究,主要有数值模拟 、实验研究及理论分析等 ,如通过非线性有
限元程序研究真空结构橡胶密封圈泄漏 ]、以压缩率为基础预估柱塞密封结构漏率 ]、研究水下容器内部流体
泄漏后的扩散 ]、利用数值模拟进 行管道流动研 究 ]、采用二维模型研究孔 口泄漏l8]、探讨真空泄漏检测方
法 、开展高温高压管道流体泄漏实验研究口叩及进行气体扩散理论分析_1妇等 。大部分研究都是在泄漏通道截
面形状或泄漏面积已知的条件下进行 ,获得泄漏过程 中某个状态参数平均值_l4。 。而对充气 区域在无压差
工况且泄漏通道未知条件的泄漏研究较少 ,且未获得整个泄漏过程中气体状态参数具体分布 。 ,不能为阵列
天线应用提供足够参考。本文拟采用 “当量面积”泄漏 13取代密封结构作为泄漏通道 ,通过基于有限体积法 的
仿真软件 ,对高功率径 向线阵列天线充气 区域在无压差工况下的气体泄漏特性进行数值模拟 ,并与实验测量结
果进行分析 比较 。
1 方法描述
高功率径 向线 阵列天线基本结构如 图 1所 leak
示。整个阵列天线腔体由天线罩 (共 94个)、上盖
板、腔体及屏蔽箱 四部分组成。每个天线罩 与上
盖板 、上盖板与腔体及腔体与屏蔽箱之 间均采用
密封圈密封。天线 内部为惰性气体 ,压力为 0.1
MPa,外部为空气。对天线检漏可知上盖板与腔
体间密封结构基本无泄漏 ,而天线罩与上盖板 、腔
Basicstructureofhigh—powerradiallinearrayantenna
体与屏蔽箱问密封结构有泄漏 。密封结构泄漏为 “
图 1 高功率径 向线阵列天线基本结构
气体从密封材料与金属接触表面无数细微缝隙的
渗透及通过密封材料的扩散 ,显然直接对密封结构泄漏仿真不可行 。若存在一个面积 已知的泄漏 口和密封结
构的泄漏效果一样 ,则在整个泄漏过程中此泄漏 口可取代密封结构作为泄漏通道 ,此 已知面积 即为 “当量面
积”,此 口即为 “当量面积”泄漏 口。研究先基于短时间实验获得的平均氧气浓度数据 ,利用文献 [11]中公式算
出天线所有密封结构的总当量面积,再参考检漏情况并根据流导比值将总当量面积分配到各密封结构处,以此
得到等效各密封结构的当量面积泄漏 口,然后用当量面积泄漏 口取代各密封结构建立泄漏模型,并通过流体软
件对泄漏过程进行仿真 ,最后通过完整泄漏实验进行验证 。
* 收稿 日期 :2013-11-16; 修订 日期
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