Ag_Cu_Zn_Sn_xGa_yIn钎料性能与显微组织.pdfVIP

第 3 1卷 第 3期 焊 　 接 　 学 　 报 Vo l. 3 1 　No. 3 2 0 1 0 年 3 月 TRAN SACTION S OF THE CH INA W ELD IN G IN STITU TION M arch 　 2 0 1 0 A gCu Zn Sn xGa y In 钎料性能与显微组织 1, 2 1 1 1 3 3 　　　　　 　　赖忠民 , 　薛松柏 , 　张 　亮 , 　皋利利 , 　顾立勇 , 　顾文华 ( 　　　　　　　　　 1. 南京航空航天大学 材料科学与技术学院 , 南京 　2 100 16; 　　　　　　　　　2. 江苏科技大学 先进焊接技术省级重点实验室 , 江苏 镇江 　2 12003; 　　　　　　　　　3. 常熟市华银焊料有限公司 , 江苏 常熟 　2 15513) 摘 　要 : 通过对 A gCuZnSnx Gay In钎料的钎焊试验发现 :单独添加 Ga或 In 元素时 , ( ) Ga, In元素的添加量分别控制在 3% , 1. 5% 质量分数 左右最佳 ;复合添加 Ga与 In 元 素时 , A gCuZnSn3Ga2 In 的力学性能最佳. 对钎焊接头拉伸断口进行分析结果表明 , A gCuZnSn3Ga2 In接头断口具备明显韧性断裂特征. 当 In 元素添加量超过 2%时 , 对钎焊接头强度的影响趋于平缓 ,但是断口已具有明显的解理形貌. Ga, In元素在钎料 基体中分布均匀 ,无明显偏析现象 ,但是 A gCuZnSnx Gay In 钎料基体组织呈现明显 的 “骨架 ”状特征. 关键词 : 银钎料 ; 显微组织 ; 镓 ; 铟 中图分类号 : TG425　　文献标识码 : A 　　文章编号 : 0253 - 360X (2010) 03 - 0073 - 04 赖忠民 0　序 　　言 能[ 2 ] , 国内外 已经开发 了多个含镓 、铟银钎料专 利 [ 3 ] ,但是对其机制尚缺乏系统深入的研究. 因此 , 含镉银钎料以其优异的工艺性能 ,在航空航天 选择以 BA g40CuZnSn 为基础的无镉银钎料 [ 4 ] 作为 和家电等领域得到了广泛应用. 但以 BA g40CuZnCd 参照物 ,在 A gCuZnSn 四元合金共晶的基础上 ,将钎 为代表的含镉银钎料在显示其优越性和广泛应用的 料中含银量控制在 30% ,通过添加 Ga 元素和 In 元 同时 ,镉的毒性对环境造成的危害也越来越受到广 素 ,研究了 A gCuZnSnx Gay In钎料中镓和铟元素 对银钎料钎焊性能与显微组织的影响. 泛关注. 欧盟 、美 日等国以及国内均已明令禁止含 镉材料用于家电等领域 [ 1 ] , 因此 , “无镉银钎料 ”的 研发 , 已成为国内外钎焊界关注的热点. 1　试验方法 “无镉银钎料 ”的研究 ,最根本的问题就是在既