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特征荧光X射线吸收法精确测定基于铍膜的235U裂变靶厚度.pdf
第42卷第11期 原子能科学技术 V01．42，No．11
2008年11月 Atomic Scienceand Nov．2008
Energy Technology
特征荧光X射线吸收法精确测定
基于铍膜的235U裂变靶厚度
欧阳晓平，刘林月，黑东炜，王宝慧
(西北核技术研究所。陕西西安710024)
摘要：研究发展了一种基于特征荧光X射线吸收谱的、可精确测量裂变物质质量厚度的方法，系统分析
了测量不确定度。实验结果表明，该方法可有效测定基于铍膜的235U裂变靶质量厚度，测量不确定度小
于5％，其不确定度主要来源于测量的统计性．
关键词：特征荧光X射线吸收谱；2髓U；裂变材料，质量厚度测量；镀基底
中图分类号：0571．43；0434文献标志码：A 文章编号：1000—6931(2008)11—0997—04
235
MassThicknessMeasurementof UFission
Target
Oil Substrate CharacteristicFluorescent
Beryllium byUsing
Absorption
X-ray Spectroscopy
OUYANG HEI
Xiao-ping，LIULin—yue， Bao-hui
Dong-wei，WANG
(NorthtvestInstituteNuclear P。o．BOX69—9，Xi’an
of Technology， 710024。China)
thecharacteristicfluorescent
Abstract：Byusing X-ray new
absorptionspectroscopy，a
methodwas tomeasure 235
strategy developed themassthicknessof Ufission
target
basedon substrate themetrical
beryllium errorwasalso
accurately，and analyzed．It
was that
found themassthicknesscanbe obtained this
effectively throughstrategy
method．ThemetricalerrorofmassthicknessiSlessthan t
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