材料测试技术第六章2011.pptVIP

测试原理的适用条件 适用条件： 试样材料为多晶体，无择优取向，晶粒也不宜过细； 试样表层无应力梯度； 多晶体中有时不同的晶体学方向力学性能差别很大，引用应力常数时要注意。 本章总结 1、为什么X射线可测量宏观应力? 2、单轴应力测定原理； 3、平面应力测定原理； 4、 各项的物理意义； 5、衍射峰位置的确定。 第六章 宏观应力测定 引言 单轴应力测定原理 平面应力测定原理 试验方法 试验精度的保证及测试原理的适用条件 §6-1 引 言 内应力是指产生应力的各种外部因素撤除之后材料内部依然存在、并自身保持平衡的应力。通常分为三类： 第一类内应力； 第二类内应力； 第三类内应力。 第一类内应力又称宏观应力，在工程上常把宏观应力称为残余应力。 类型 名称 平衡范围 衍射效应 产生原因 第一类内应力 宏观内应力 在物体内部相当大（众多晶粒）范围内 使谱线位移 热处理、表面处理、机加工等 第二类内应力 微观内应力 晶粒、亚晶粒内部 使谱线宽化或衍射强度降低 晶格的弹性弯曲、扭转或均匀压缩、拉伸 第三类内应力 超微观内应力 位错线附近、析出相周围、晶界附近、复合材料界面等若干个原子尺度范围内 不同种类的原子移动、扩散和原子重新排列使晶格产生畸变 构件中的宏观残余应力与其疲劳强度，抗应力腐蚀能力以及尺寸稳定性等有关，并直接影响其使用寿命。如焊接构件中的残余应力会使其变形，因而应当予以消除。而承受往复载荷的曲轴等零件在表面存在适当压应力又会提高其疲劳强度。因此测定残余内应力对控制加工工艺，检查表面强化或消除应力工序的工艺效果有重要的实际意义。 测定宏观应力的方法很多，有电阻应变片法，小孔松弛法，超声波法，和X射线衍射法等等。除了超声波法以外，其它方法的共同特点都是测定应力作用下产生的应变，再按弹性定律计算应力。 为什么X射线可以测定宏观应力？ X射线应力测量法特点： 有效的无损检测方法； X射线照射面积可以小到1～2mm直径，因此可测定小区域的局部应力； 只能得到表面 (10～30μm深 )应力，但精度受组织因素影响很大。 ∴ ∴ §6-2 单轴应力测定原理 在拉应力?y的作用下 应变： 应力： X射线不能直接测量εy 但对均质物质，有 （?为泊松比） 对于多晶体试样，总可以找到若干个晶粒的（hkl）晶面与试样表面平行，这些晶面的晶面间距变化是可测的： 因此 §6-3 平面应力测定原理 由于X射线的穿透能力有限，只能测到10～30?m的深度，此时垂直于表面的应力分量近似为零，即测得的是接近二维平面应力。根据弹性力学原理，在一个受力物体内任一单元体上，应力在各个方向上可分解为正应力和切应力，而且适当调整单元体方位，总可以找到合适的方向，使得各平面上切应力为零，仅存在三个相互垂直的主应力?1、 ?2 、?3。 在二维应力下 主应力?1、 ?2与试样表面平行，表层主应力?3＝0，但在?1和 ?2 的作用下，垂直于试样表面的应变?3并不为零，当材料各向同性时： ?3可由平行于表面的某晶面间距d值的变化测量， 即 求某方向上应力的方法 1、测定垂直表面的应变?3： 2、测定与表面呈 的应变 ： 3、由?3、 计算 ： 将?3、 代入 得 若d0不知，则用dn代替d0 ，得 即 法基本原理 ∵ ∴ (6-13) 对（6-13）求偏导: 或 因为应变 是通过测量2θ实现的，因此将上述方程化成2θ形式 ∵ ∴ 令 K1属于材料晶体学特性参数，同一晶体不同衍射面K1不同，一般通过查表可以得到。测试时使X射线先后从几个不同的ψ角人射，并分别测取各自的2θψ角，因每次反射都是由与试样表面呈不同取的同种(hkl)所产生的．2θψ的变化反应了与试样表面处于不同方位上的同种(hkl)晶面的面间距的改变。根据测试结果作2θψ－sin2ψ的关系图，将各个测试值连成直线，并用最小二乘法求斜率M，再利用上式求得 σφ。 当M 0，表面为拉应力； 当M 0，表面为压应力。 则 由于K1 0，所以 若2? ψ ～ sin2 ψ关系失去线性，说明材料的状态偏离应力公式推导的假说条件，即在X射线穿透深度范围内有明显的应力梯度、非平面应力状态(三维应力状态)或材料内存在织构(择优取向)。 §6-4 试验方法 原则上可采用照相法和衍射仪法来测定宏观应力，但照相法效率低、误差大，现在一般不使用，多用衍射法。 衍射法通常包括衍射仪法和应力仪法，其中应力仪可对工件进行现场检测。 衍射仪法是通用的方法，主要掌握其测量步骤、几何原理和实施方法。 衍射仪法测量步骤 1、测定ψ0 ＝0?时的2?0 2、测定ψ为任意角时的2