任意固定相位差的三步相位移三维量测技术 - aoiea 自动光学检测 .pdf

任意固定相位差的三步相位移三維量測技術 何庠逵 曾定章 中央大學資訊工程學系 中央大學資訊工程學系 a0921916@ tsengdc@.tw 摘要 我們利用結構光投影法 (structured light projection) ，執行物件的三維量測 。為了達到快速量測的 目的，我們使用取像張數最少的三步相位移技術，並且加入 CUDA (Compute Unified Device Architecture) 平行處理演算法，提高量測的速度。另外，為了將來能將本技術應用在連續移動的生 產線上，我們推導任意固定相位差的三步相位移演算法；經由投影一張固定的正弦條紋結構光，利用 生產線本身的移動速度換算成相對相移量，以量測物體的高度。 由實驗結果顯示 目前精準度可到達 mm 。將可變動相位的三步相位移演算法導入 CUDA 平行計算，平均處理時間約為 4.9ms ，將其相 較於 CPU 計算，可以獲得 38.7 倍效能的提升，若加入記憶體搬移的時間，整體效能提升了約 3.3 倍。 關鍵字：結構光投影法、三步相位移 、CUDA 平行處理 壹、前言 一、研究背景與動機 隨著科技的進步 ，三維量測技術被廣泛的應用，例如醫學上人體輪廓的外型檢測、微機電 系統中的元件完整檢測 、晶圓表面輪廓量測等… ，不同產業對於物體三維量測的需求越來越 多，而在三維量測中最重要的就是如何精準且快速的獲得待測物的三維資訊 ，這也成為我 們研究的主要動機 。 現今三維量測方式大致上可以分為接觸式與非接觸式量測兩類 。接觸式是利用探針 (probe) 搭配移動裝置於待測物表面逐點量測 ；一般而言，接觸式的量測精準度較高，但探針接觸 待測物表面時可能造成破壞，且逐點量測可能造成量測時間過長 。因此當量測範圍過大， 或物體表面材質較脆弱時 ，就無法使用接觸式方式來量測。非接觸式量測顧名思義即為不 需接觸待測物即可量測的技術 。Bidanda et al. [2] 將非接觸式量測技術分為被動式與主動 式兩類 。被動式技術係指在自然光下 ，使用光學量測技術獲取所需要的量測資訊，如雙眼 立體視覺法。主動式技術則以超音波或特殊產生的圖像投射至待測物上，以反推物體的三 維資訊，如雷射測距法、疊紋法 、結構光投射法。各種非接觸量測技術的量測模式、取像 時間、量測時間 、解析度與適用物件，如表 1 所示。 表 １ ：非接觸量測技術與性質。 量測模式 取像時間 量測時間 解析度 適用物件 雙眼立體視覺法 面量測 1 秒內 普通 最低 cm 以上 雷射測距法 點或線掃描 無 最耗時 最高 mm 以下 疊紋法 面量測 1 秒內 普通 中 cm 以上 結構光投射法 面量測 數秒 普通 中 皆可 傳統結構光投射法是利用光柵或干涉技術產生有意義的圖案或條紋，搭配光源投影至物體 上。但是由於光柵與干涉的製作不易 ，在實作上帶來諸多不便。而數位投影法利用事先於 電腦程式產生灰階分佈的結構光圖案 ，用固定好的投影機與相機進行實驗，藉由投影機投 射圖案至物體上並由相機取像 ，再根據相機所取的多張影像 ，同一像素但不同灰階關係來 計算相位值 ，最後與基準平面的相位相減所得相位差，