第1章半导体中的电子状态汇编.ppt

第1章半导体中的电子状态汇编

* 赝晶(共格)生长 用分子束外(MBE)延法,在Si上外延生 长Si1-xGex合金薄膜,当外延层厚度在适当的范 围时,晶格的失配可通过Si1-xGex合金层的应变 补偿或调节,则得到无界面失配的Si1-xGex合金 薄膜。 * 无应变的体Si1-xGex合金 的禁带宽度(4.2K) * 应变Si1-xGex合金的禁带宽度 改变 Ge 组分 x 和应变的大小,则可调整 应变Si1-xGex合金的禁带宽度。 * 应变和无应变的Si1-xGex 的Eg与Ge 组分的关系 0 20 40 60 80 100 Ge 组分 x (%) 0.6 0.7 0.8 0.9 1.0 1.1 禁带宽度 (eV) 2 3 应变的 无应变 轻空穴带 重空穴带 SiGe/Si应变 层超晶格材料 新一代通信 * 5. 宽禁带半导体材料(Eg?2.3)的能带 SiC、金刚石、II族氧化物、 II族硫化物、 II族硒化物、III氮化物及其合金 ?高频、高功率、高温、抗辐射和高密度 集成的电子器件 ?蓝光、绿光、紫外光的发光器件和光探 测器件 * SiC的晶格结构和能带 同质多象变体(同质多型体): 在不同的物理化学环境下,形成两种或两 种以上的晶体,这些成分相同,形态、构造和 物理性质有差异的晶体称为 ~ 。 SiC的多象变体约 200 多种。 * 结

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