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应用固态物理——X 射线荧光分析 应用 X 射线荧光光谱无损分析化学组分 实验目的： 1. 测量不同合金的荧光光谱 2. 定性分析荧光光谱：测定合金中元素成分 实验原理： 当样品被X射线辐照时，会激发出特征X射线，即荧光，其能量与样品材料原子序数有关。 这种关系被称作莫塞来定律。如果这种被辐照的物质是化合物或混合物，它的荧光光谱会比较 复杂。因为X射线跃迁发生的内层原子壳层并不包含在化学键中，这种特征谱线是与元素的化 学键无关的。意味着在一级近似下，化合物的X射线荧光谱是其中元素的荧光光谱的叠加。 在定性分析样品的化学组分时，荧光光谱上初始发现的所有峰都与元素相关，可以通过元 素周期表上的特征能量值来确认其元素。因为这种相关性，所有谱系列的图像都要被考虑在内。 举例来说，如果存在K 线，那么在图谱中必然存在一个强度较低（约1/5~1/10强度）的K 线。 α