万克树《材料分析测试技术》2.2透射电镜.pptVIP

* 第二相粒子图像衬度 影响因素 粒子的形状 粒子在薄膜内的深度 晶体结构、位相、化学成分 粒子与基体点阵之间的关系 界面附近可能存在的浓度和缺陷梯度 * * 透射电子显微镜（TEM） 历史与性能 构造 样品制备 成像方式与图像分析 电子衍射像 显微像 质厚衬度图像分析 衍射衬度图像分析 TEM照片举例 TEM应用和发展 * TEM照片分析 对电镜照片的分析，应先从各种资料中尽可能地对被分析样品有所了解（比如：对于金属氧化物可能具有一些典型的构成形状，如球形，条形，支形或核形等等，可以根据这些形状来判断金属氧化物的种类和生长情况） ，估计可能出现的结果，再与电镜照片进行比对，做出正确的解释。 现代电镜一般都带有“能谱”附件，对于不好判断的晶粒形状，可以使用X光能谱对所分析的样品做分区元素分析，然后再做出其正确的判断。 * 单晶，多晶与非晶的比较 使用电镜的电子衍射功能可以判断样品的结晶状态： 单晶为排列完好的点阵。 多晶为一组序列直径的同心环。 非晶几乎没有衍射强度。 * 碳棒 单壁碳管 * MCM41 重金属组装 * Zn颗粒 Co颗粒 * 不同温度下TiO2晶粒生长的情况 * 纤维 花粉 * 球表面的Au