半导体器件物理(陈占国)第五章 JFET 第六章.pptVIP

半导体器件物理(陈占国)第五章 JFET 第六章.ppt

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6.5 MOSFET 一、基本结构和工作原理 图6-15 MOSFET的工作状态和输出特性:(b)饱和之后 6.5 MOSFET 二、MOSFET的I-V特性 图6-16 N沟道MOSFET 6.5 MOSFET 二、MOSFET的I-V特性 图6-16 N沟道MOSFET的I-V特性 饱和区 线性区 6.6 MOSFET的等效电路和频率响应 一、等效电路图: 图6-20 MOSFET的小信号等效电路图 6.6 MOSFET的类型 6.6 MOSFET的类型 * * * * * * * * * * * * * * 第五章 结型场效应晶体管和金属—半导体场效应晶体管 Chapter 5 Junction Field Effect Transistor (JFET) and Metal-Semiconductor Field Effect Transistor (MESFET) JFET和MESFET的历史 1952年W. Shockley第一次提出JFET器件并对其特性进行了分析讨论,提出了Shockley模型。 1953年G. C. Dacey和I. M. Ross制造出第一只JFET。 C. A. Mead于1966年首次报道了MESFET器件模型。 1967年W. W. Hooper和W. I. Lehrer宣布制造出第一只MESFET。 一、JFET的物理本质: 1. JFET是一个由电压控制的可变电阻。 2. 用PN结作为栅结,控制两个欧姆结之间的电阻,从而实现两个欧姆结之间的电流控制。 二、JFET的特点: 属于单极器件。即只由多数载流子承担电流的输运。 三、MESFET与JFET的区别与联系: 将JFET的PN结用MS结代替作为栅结,就构成MESFET。 二者的工作原理基本相同。 引 言 5.1 JFET的基本结构和工作原理 一、JFET的基本结构: 二、几个概念: 1. 有源层:导电沟道,channel; 2. 沟道电流 (ID) :漏极电流,漏电流; 3. 源极发射载流子;漏极收集载流子; G D S S D G 外延—扩散工艺 双扩散工艺 4. N沟道JFET:沟道电流为电子电流,(栅区为P+区); 5. P沟道JFET:沟道电流为电子电流,(栅区为P+区); 6. N沟道器件有更大的电导和速度。 5.1 JFET的基本结构和工作原理 三、JFET的基本工作原理: 栅极PN结反偏 G D S S D G SCR向沟道内部扩展 沟道截面积变小,电导变小。 可见:源漏之间流过的电流受栅极电压调制,这种通过表面电场调制半导体电导的效应,称为场效应。 5.1 JFET的基本结构和工作原理 三、JFET的基本工作原理: 1. VD由0开始增大时, 栅结SCR展宽,沟道漏极端变窄,长沟道近似下,认为沟道电导基本不变,ID 开始随VD线性增大; 2. VD = VP时,在x = L处,SCR在沟道内连通,连通区域内,载流子完全耗尽,称为沟道夹断; G D S S D G VG= 0的JFET特性 VD VP VD= VP 5.1 JFET的基本结构和工作原理 三、JFET的基本工作原理: 3.沟道夹断时的漏极电压,称为饱和漏电压,VDS; 4.沟道夹断后,夹断点处的电压称为夹断电压, VP; 5.沟道夹断后,再增加漏极电压,夹断点将向源极端移动,但夹断点的点位基本保持VP不变,因为继续增加的那部分漏极电压主要降落在连通的SRC上。 G D S S D G VG= 0的JFET特性 VD VP VD= VP 5.1 JFET的基本结构和工作原理 三、JFET的基本工作原理: 6.如果忽略沟道长度调制效应,沟道夹断后,漏极电流将不再增加而处于饱和状态。漏电压,VDS; 7.沟道夹断后的漏极电流称为饱和漏电流, IDS 。 G D S S D G VG= 0的JFET特性 VD VP VD= VP 5.1 JFET的基本结构和工作原理 四、JFET的优点: 电流传输为多子,不存在少子存储效应,因而有较高的截止频率和开关速度; 属于电压控制器件,输入电阻高,易于实现级间耦合,易于与标准微波系统匹配; 多子器件,所以抗辐射能力强; 多子器件,有更好的温度稳定性,更低的噪声; 与BJT和MOS工艺兼容,利于集成。 5.4 小信号参数和等效电路图 一、交流小信号等效电路图: 1. RS和RD:串联电阻。饱和工作区,RD的影响可忽略,但RS有负反馈作用,会降低漏极电流,应尽可能小,以至可忽略。 2. rgs和rgd :栅源、栅漏扩散电阻。引起栅极泄漏电流,1pA~1nA,因此rgs和rgd 很大,108 Ω,可以忽略。 JFET交流小信号等效电路图 5.4 小信号参数和等效电路图 一、交流小信号等效电路图

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