相干光散斑的计算模拟与实验研究.pdfVIP

摘要 相干光散斑的计算模拟与实验研究 摘 要 散斑场的研究与探测多年来在散斑干涉计量术及随即表面研究等多个领域中一 直备受关注。散斑干涉计量中由于散斑场的光强分布特征包含了物体的位移和形变信 息，因此可借助于散斑场的研究和探测进而获取物体的位移和形变信息。此外，散斑 杨氏条纹是干涉计量学的基础，目前杨氏于涉条纹图样已构成了许多前沿领域的基 础，因此散斑杨氏干涉条纹图样的研究也具有重要意义。一般说来，散斑特别是像面 散斑的性质是由散射体和散射后光波所经过的光学系统共同决定的，其中散射体所引 起的光波初始随机相位起伏的剧烈程度对散斑场的概率分布等某些基本统计特性有 重要影响，以前的研究就发现经随机表面产生的散斑场与随机表面统计特性之间有着 密切的联系，因此可通过散斑场的分布来研究随机表面的特性，称为散斑法，目前散 斑法以其无接触，无损伤和成本低廉等优点已成为探测或提取随机表面信息的最重要 的方法之一。之前的研究及应用多集中于衍射去附近的散斑，而由于像面散斑与随机 表面及成像系统参量之间的错综复杂的关系，其特性及应用的研究目前尚不是十分完 善。此外在散斑场的实验测量中由于实验条件的限制，散斑场的测量精度总是受到限 制。为了进一步提高散斑场探测的精度，我们必须克服目前探测器的分辨极限的影响。 为此围绕相于散斑场的特性、探测和应用本文先后开展了一下几个方面的研究工作。 第一章对随机表面的标定方法以及统计特性进行了描述，对比了不同特征参量的 随机表面的差异。此外通过对散斑干涉计量术基本原理的分析，得到了散斑杨氏下．涉 条纹与物体形变之间的关系。最后剖析了散斑场探测器CCD的基本工作原理，分析 得到了散斑场探测精度的限制因素。 第二章对随机表面产生的像面散斑进行了计算模拟，讨论了像面散斑对比度与随 机表面及成像系统参量之间的关系。通过模拟获得随机表面并使之通过够系统产生 像面散斑，计算不同参量的随机表面产生的像面散斑的对比度，结果表明像面散斑对 比度与成像系统参量及随机表面均方偏差粗糙度w、横向相关长度f以及分形指数d 摘要 之fRJ柯密切的联系，且随这些参量的变化对比度呈现出一定的变化规律。这些规律至 今未见有文献报道，并且据我们所知，有关随机表面的分形指数口对散斑对比度影响 的讨沦实属首次。 第三章提出了测量散斑场的退卷积法以突破探测器件极限精度对探测散斑场分 辨率的限制。主要将散斑场探测器得到的数据进行退卷积法处理，成功地将一个像素 内的能量分成若干份，获得了较高分辨率的图像，解决了空间分辨率低的难题。我们 不仅从理论上印证了该方法的精确性，而且在实验中利用纳米平台的高度精确性从而 控制两次拍摄范围之间的间隔，成功获得退卷积的散斑场空间分布的数据。实验结果 证实了该方法的可行性。 第四章基于散斑统计理论研究了散斑杨氏条纹的形成及其对比度的分布规律。将 记录了物体形变信息的全息图放入付里叶变换系统作逐点分析即可获得散斑杨氏条 纹图。在对物体形变作一级近似的前提下，我们在理论上计算了傅立叶变换面上的平 均光强表达式。借助平均光强与对比度的关系式进而获得对比度的数学表达式。从理 论上可以发现散斑杨氏条纹对比度的空间分布是不均匀的。通过相应的实验我们也证 明了这一特性。 关键词：随机表面，杨氏条纹，对比度，分辨率 分类号：0438 Simulational and studies on experimental speckles Producedcoherent by illuminations Abstract Greatattentionshave to been t