agilent medalist i3070 测试程序最优化 - keysight.pdf

Agilent Medalist i3070 测试程序最优化 肖巍 中国区 ICT 应用工程师 安捷伦科技有限公司 本应用指南考察了导 为什么测试时间会增加呢? 测试时间的增加主要来自以下几个原因: 致 Medalist i3070 在线测 1. 测试程序是通过 IPG 产生出来的，但是没有针对特别的产线上的板子 试系统上测试时间提高的 做程序优化。 2. 当在第一次测试程序调试的时候增加了测试选项。 某些应素，以及用户可以 3. 在产线测试的时候增加了测试选项。 采用在 Medalist i3070 4. 错误的打乱模拟测试的顺序。 5. 错误的上电顺序。 I C T 上缩短系统测试时 6. 使用默认的矢量循环时间来进行数字零件测试。 间，提高吞吐量的方法。 7. 在上电测试过程中过度的等待。 8. 随意的使用“safeguard cool”命令。 9. 太复杂的测试。 10. 随意的在testplan 中使用等待命令。 11.不合逻辑的使用 GP-Relay。 12. 匮乏的 i3070 系统硬件。 一步一步的手动优化 Medalist i3070 测试程序: Medalist i3070 软件具有协助工 实际案例: 采用默认的 settling 程师优化测试程试的工具。 delay 的短路测试时间为: 5.563 秒。经过优化 settling delay 后的 1. Pins 测试 短路测试时间为 2.094 秒。 Pins 测试是用来确认夹具和印刷 Example: 线路板之间的接触是否良好的测试。 report netlist, common devices 在“testplan”中的语法: !!**************************************************** 1) Pins 测试被设置成一个旗标 threshold 15 并被归纳到“Set_Custom_ !settling delay 50.00u Options”的子程序中。 short “SMVREFCAP” to “SMVREFSOURCE” 2) 在“Set_Custom_Options” short “UNNAMED_44_CAP_I136_A” to “FE0_RX-” !J4 的子程序中找到“Chek_Point_ short “UNNAMED_44_CAP_I136_A” to “FE0_RX+” !J4 Mode”的旗标。他能够被设 short “UNNAMED_44_CAP_I135_A” to “FE0_TX-” !J4 置为 OFF ，PRETEST or s