工业CT在工件检测中X射线硬化校正.pdfVIP

第28卷，第6期 光谱学与光谱分析 2Oo and 8年6月 SpectroscopySpectralAnalysis June，2008 工业CT在工件检测中X射线硬化校正 彭光含1’2，蔡新华1，韩忠3，杨学恒3 1．湖南文理学院物电学院，湖南常德415000 2．重庆大学自动化学院，重庆400030 3．重庆大学数理学院，重庆400030 摘要X射线工业CT中，由于X射线能谱具有多色性，X射线在透射物质时，能量较低的射线优先被吸 收，X射线能量越高，衰减系数越低。也即较高能量的X射线的衰减系数比较低能量的X射线的衰减系数 小。射线随透射厚度增大，变得更易穿透，也就是发生了能谱硬化现象。由于射线硬化现象使图像重建时出 现伪影，因此必须修正。文中对X射线硬化现象进行了分析，探讨了在均匀物质中，X射线射束和与透射厚 度的关系。并根据Beer定律和x射线与物质作用的特点，通过获取X射线射束和数据，拟合出射束和与透 射厚度的关系式。然后得出在同一透射厚度时，x射线射束和校正为单色等效射柬和的关系及其等效方法。 最终得出x射线等效单色射线的衰减系数的拟合值。再对此衰减系数拟合值进行卷积反投影重构，即可有 效消除X射线射束硬化的影响。 ‘ 关键词X射线；IcT；硬化校正；射束和 ， 中图分类号：()434．1；TP391文献标识码：A 文章编号：1000-0593(2008)06一1426-04 引 言 之为射束和。则Beer定律可写成射束和Beer定律形式 “ y=肛 (2) X射线工业CT中，由于X射线源能量谱具有多色性和即在单色源情况下，y与z成线性关系[11，如图1中过原点的 连续性，X射线源在穿过物质，与物质发生相互作用时，能 斜线。对于多色源，射线穿过物质时的透射强度嘲为， 量较低的射线优先被吸收[1’2]，射线随透射厚度增大，平均 17=：k百叫墨h (3) 7 能量增大，变得更易穿透，这就是能谱硬化现象[争引。它影响 其中：k是进入工件前能量为及的光子强度，弘(E)是能量 着Cr重构的质量，使得密度均匀的切片在重构图像上表现 为E时的衰减系数。因此，在工业cT中X射线透过物质 为亮度不均，图像上的像素值分布呈“茶杯”状，如未校正， 时，不同能量部分被衰减的量不同，也即被测样品内的同一 必影响cT图像质量。 处对同一射线表现为多个衰减系数，发生了能谱硬化现象。 1 X射线硬化分析 CT图像重建是以衰减系数岸进行卷积反投影重构得到 的。对于单色源，如’，射线源，由于射线能量单一，对某给 定均匀物质，射线的衰减系数弘是一恒值。因此，对于理想 单色源，射线衰减遵守Beer定律‘引。 J=L∥ (1) Fi晷lRebtionbe“嗍b‘删ms咖aI-dtr赳嘲ni鹤j帆thickne鹤 式中：I表示射线透射强度，L表示入射光强度，z表示透射 1：M0nochDomatic强y；2：x-my 收穆日期：2007-