基于原子力显微镜的纳米材料电流检测系统.pdfVIP

99 传感器与微系统(TransducerandMicrosystemTechnologies) 2008年 第27卷 第l1期 基于原子力显微镜的纳米材料电流检测系统 李东升 ，李民强 ，‘郑 鹏 ， (1．中国科学院 合肥智能机械研究所 。安徽 合肥230031；2．中国科学技术大学。安徽 合肥230026) 摘 要：在实验室原有的原子力显微镜的基础上，进行硬件改造，实现纳米材料的电流检测。改造电路以 PIC单片机为核心，与其他外围电路相互配合，结合Mplab集成开发环境进行嵌入式软件开发，并进行了 实验，结果证明：该系统能够实现电流检测功能，并能可靠工作。 关键词：原子力显微镜；单片机；电流检测 中图分类号：TP206．1 文献标识码：B 文章编号：1000--9787(2008)11—0090—03 Currentmeasuringsystem 0fnano．materialbased0n ． ● ^ ● 嫩 atom ic torcem lcroscopy LIDong-sheng’，LIMin-qiang，ZHENGPeng’ (1．InstituteofIntelligentMachines，ChineseAcademyofSciences，Hefei230031，China； 2．UniversityofScienceandTechnologyofChina，Hefei230026，China) Abstract：Basedonatomicforcemicroscopy(AFM)，itscircuithardwareisimprovedinthelaboratory，SOAFM haseulTentmeasuringfunction ofnanom·ateria1．PIC microcontrollercontrolsotherperiphery circuitsin this design，Mplab integrated developmentenvironmentprovides an environmentto develop code forembedded microcontroller．Theresultofexperimenttellsthatthesystem hascurrentmeasuringfunctionandcanworkwel1． Keywords：atomicforcemicroscopy(AFM)；microcontroller；currentmeasurement 0 引 言 上，四象限传感器将光信号转换为电信号，然后，通过前置 原子力显微镜 (AFM)是一种具有原子级别分辨率的 放大并进入控制箱，当对纳米材料进行扫描时，通过计算机 纳米检测和测量工具。由于它不受材料限制，可在大气下 上控制界面送给控制箱指令，从而控制箱发出相应的信号 工作 ，甚至可以工作在液相环境下，因此，被广泛应用于纳 驱动扫描管，作用于针尖上的原子力就随样品表面的起伏 米技术研究 。 而变化，检测四象限传感器输出信号的大小，即可推知微悬 纳米技术是2O世纪8O年代发展起来的高新技术 ，各 臂的偏转量 (对应于原子力)的大小，最终获得样品表面的 发达国家，如，美国、日本和西欧等都将纳米技术作为2l世 三维微观形貌。 纪新产业革命的核心，我国也在科技发展战略中将纳米技 术列为优先发展计划。以扫描隧道显微镜 (STM)与AFM 为代表的扫描探针显微镜 (SPM)技术 ，是纳米技术发展的 重要基础，而在SPM家族中，又以AFM的应用领域更为广 泛 ，因为大多数