自控实验4.docVIP

北京联合大学 实验报告 课程（项目）名称： 实验四 线性系统的校正 学 院： 自动化 专 业：电气工程与自动化 班 级： 电气1101B 学 号： 2011100334116 姓 名： 蔡万良 成 绩： 2013年12月2日 实验四 线性系统的校正 线性控制系统的校正与状态反馈就是在被控对象已确定，在给定性能指标的前提下，要求设计者选择控制器（校正网络）的结构和参数，使控制器和被控对象组成一个性能满足指标要求的系统。频域法校正主要是通过对被控对象的开环对数幅频特性和相频特性（波德图）观察和分析实现的。 一．实验目的 1．了解和掌握超前校正的原理。 2．了解和掌握利用开环的对数幅频特性和相频特性完成超前校正网络的参数的计算。 3．掌握在被控系统中如何串入超前校正网络，构建一个性能满足指标要求的新系统的方法。 二．实验内容及步骤 1．观测校正前时域特性曲线，並测量校正前系统的超调量Mp、峰值时间tP。 2．观测被控系统的开环对数幅频特性和相频特性，幅值穿越频率ωc，相位裕度γ，按“校正后系统的相位裕度γ′”要求,设计校正参数，构建校正后系统。 3．观测校正后的时域特性曲线，並测量校正后系统的超调量Mp、峰值时间tP。 4．观测校正后系统的频率特性，观测校正后幅值穿越频率ωc′、相位裕度γ′。 注：在进行本实验前应熟练掌握使用本实验机的二阶系统开环对数幅频特性和相频特性的测试方法。 1）。未校正系统的时域特性的测试 未校正系统模拟电路图见图4-1。本实验将函数发生器（B5）单元作为信号发生器， OUT输出施加于被测系统的输入端Ui，观察OUT从0V阶跃+2.5V时被测系统的时域特性。 图4-1 未校正系统模拟电路图 实验步骤： 注：‘S ST’ 用“短路套”短接！ （1）构造模拟电路：按图4-1安置短路套及测孔联线，表如下。 （a）安置短路套 （b）测孔联线 模块号 跨接座号 1 A1 S4，S8 2 A2 S3，S11 3 A3 S1，S6 4 A6 S4，S8，S9 5 B5 ‘S-ST’ 1 信号输入r(t) B5（OUT）→A1（H1） 2 运放级联 A1（OUT）→A2（H1） 3 运放级联 A2A（OUTA）→A6（H1） 4 负反馈 A6（OUT）→A1（H2） 5 运放级联 A6（OUT）→A3（H1） 6 示波器联接（）→CH1） 7 B5（OUT）→B3（CH2） （2）将函数发生器（B5）单元的矩形波输出作为系统输入R。（连续的正输出宽度足够大的阶跃信号) ① 在显示与功能选择（D1）单元中，通过波形选择按键选中‘矩形波’（矩形波指示灯亮）。 ② 函数发生器（B5）单元的量程选择开关S2置下档，调节“设定电位器1”，使之矩形波宽度≥3秒（D1单元左显示）。 ③ 调节B5单元的“矩形波调幅”电位器使矩形波输出电压= 2.5V（D1单元右显示）。 （3）运行、观察、记录： ① 运行LABACT程序，在界面自动控制菜单下的“线性系统的校正和状态反馈”实验项目，选中“线性系统的校正”项，弹出线性系统的校正的界面，点击开始，用虚拟示波器CH1观察系统输出信号。 ② 观察OUT从0V阶跃+2.5V时被测系统的时域特性，等待一个完整的波形出来后，点击停止，然后移动游标测量其超调量、峰值时间及调节时间。 时域特性 超调量Mp(%) 峰值时间tp(s) 65.64% 0.32 在未校正系统的时域特性特性曲线上可测得时域特性： 表4-1 未校正系统的时域特性 MP=?v/2.5*100%=1.641/2.5*100%=65.64% Tp=0.32s 2）．未校正系统的频域特性的测试 本实验将数/模转换器（B2）单元作为信号发生器，实验开始后，将按‘频率特性扫描点设置’表规定的频率值，按序自动产生多种频率信号，OUT2输出施加于被测系统的输入端r(t)，然后分别测量被测系统的输出信号的闭环对数幅值和相位，数据经相关运算后在虚拟示波器中显示。未校正系统频域特性测试的模拟电路图见图4-2。 图4-2 未校正系统频域特性测试的模拟电路图 实验步骤： （1）将数/模转换器（B2）输出OUT2作为被测系统的输入。 （2）构造模拟电路：按图4-2安置短路套及测孔联线表如下。 模块号 跨接座号 1 A1 S4，S8 2 A2 S3，S11 3 A3 S1，S6 4 A6 S4，S8，S9 5 B5 ‘S-ST’ （a）安置短路套 （