AEC-Q100 G CH 基于集成电路应力测试认证的失效机理.pdf

基于集成电路应力测试认 证的失效机理 内容列表 AEC-Q100 基于集成电路应力测试认证的失效机理 附录1：认证家族的定义 附录2：Q100设计、架构及认证的证明 附录3：邦线测试的塑封开启 附录4：认证计划和结果的最低要求 附录5：决定电磁兼容测试的零件设计标准 附录6：决定软误差测试的零件设计标准 附件 AEC-Q100-001 邦线切应力测试 AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率（ELFR） AEC-Q100-009 电分配的评估 AEC-Q100-010 锡球剪切测试 AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 227 感谢 任何涉及到复杂技术的文件都来自于各个方面的经验和技能，为此汽车电子 委员会由衷承认并感谢以下对该版文件有重要贡献的人： 固定会员： 准会员： 327 特邀会员： 其他支持者： 427 注意事项 AEC文件中的材料都是经过了AEC技术委员会所准备、评估和批准的。 AEC文件是为了服务于汽车电子工业，无论其标准是用在国内还是国际上， 都可排除器件制造商和采购商之间各方面的不一致性，推动产品的提高和可交换 性，还能帮助采购商在最小的时间耽搁内选择和获得来自那些非AEC成员的合适 的产品。 AEC 文件并不关注其采纳的内容是否涉及到专利、文章、材料或工艺。AEC 没有认为对专利拥有者承担责任，也没有认为要对任何采用 AEC 文件者承担义 务。汽车电子系统制造商的观点主要是AEC文件里的信息能为产品的说明和应用 提供一种很完美的方法。如果没有在本文件见到所陈述的要求，就不能声称与本 文件具有一致性。 与AEC文件相关内容的疑问、评论和建议请登陆链接AEC技术委员会网站： 本文件由汽车电子委员会出版。 尽管AEC拥有版权，但本文件可以免费下载。由于该下载方式，个人须同意 不会对该文件索价和转售。 享有著作权。本文件可以根 据著作权注意事项进行再次出版印刷。不经过AEC元器件技术委员会批准，本文 件禁止任何更改。