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第27卷第9期 半导体学报 V01.27N0.9
2006年9月 CHINESEJoURNALoFSEMICONDUCToRS Sep.,2006
基于CMOS亚阈值特性的低功耗温度传感器
张 洵+ 王鹏 靳东明
(清华大学微电子所,北京100084)
摘要:针对片上系统测温及其过温保护问题,提出了一种基于cMoS亚阈值特性制造的低功耗温度传感器.
csMc
O.6肛m数模混合工艺仿真表明,其在一50~150℃的温度范围内,都能良好工作,且因为运放负反馈结构对
电源电压具有较高的抑制,在2~6V的范围内都能得到正确的输出结果.芯片实测,温度灵敏度为0.77V/℃.因为
性表明它非常适用于高容量的集成微系统中,在计算机、汽车电子、生物医学等领域有着广阔的应用前景.
关键词:温度传感器;温度保护电路;电源电压抑止比;温度灵敏度
EEACC:1205;2560;2570D
中图分类号:TN47 文献标识码:A 文章编号:0253—4177(2006)09-1676-05
1 引言 2 CMoS温度传感物理原理
集成电路的热效应是指由于集成电路器件及金 本征载流子浓度与禁带宽度具有如下关系式[6]:
一F
属互连线上的能量消耗而造成芯片内部温度场分布 n; =Ⅳ。Ⅳ,exp音 (1)
K』
的不均匀,从而引起电路参数变化,性能变坏,甚至
这里 N。和Ⅳ,分别是导带底和价带顶有效态密
逻辑功能错误,使芯片无法正常工作口~4].
度;忌是玻尔兹曼常数.高纯度Si的禁带宽度E。是
目前,集成电路热效应越来越严重,早期PC的
1.12eV,但随着材料温度增加而减小,这是因为材
整机功耗只有100多瓦,而现在Intel的65nm单核
料体积会随温度变化.另外,因为载流子迁移率口与
奔腾四处理器(Prescott核心)的功耗就已经达到了
两次碰撞间的平均自由程相关,而这主要是由电离
95w,并且这种温度增长趋势还在继续.研究表明,
杂质散射、声学波散射、光学波散射这三种散射机制
芯片温度平均每升高1℃,MoS管的驱动能力将下
决定的,而声子散射和温度相关.
降约4%,连线延迟增加5%,集成电路失效率增加
从电路级审视这个问题,工作于强反型饱和区
一倍[5].而目前业界流行的设计模拟软件(如Ca.
的MOS结构满足如(2)式所示的方程:
dence,Hspice,IRSIM等)大都只是假定所有器件
..,1
在同样温度下工作.因此,针对此类“热障”问题,片 (2)
,d=学s(y舒一yT)2
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