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常用晶体管介绍

常用晶体管简介;准备知识:PN结;V1比较稳定,可作为稳压,通过工艺可以调节为几伏到几千伏 V2处为正向导通,硅管约为0.6V 齐纳击穿:高掺杂,结宽小,较小的反向电压?强结内反向电场,共价键的电子被拉出,载流子迅速增加 雪崩击穿:结宽宽时,由于载流子穿过结的路程长,被电场加速撞出共价键形成新的电子空穴对,载流子又去装另外的共价键形成的链式反应;双极型三极管(Bipolarity Junction Transistor);BE结正偏,BC结反偏( ), E结会有从B到E的 ,同时C会反向导通形成 从C经过B流向E。所以基极电流与集电极电流叠加形成了发射极电流。;共发射极接法测试原理及输出特性;共发射极输入特性;BJT的参数;场效应晶体管(Field Effection Transistor);【偏置电压Eg,交流小信号Us,漏极电阻Rd,直流电源Ed。 新号变化,Ugs使得Id改变。Rd两端电压成比例改变。 当Eg,Ed??Rd选取合适的值时,电路具有BJT一样的电压放大功能。;典型特性:输出特性曲线;转移特性曲线;MOSFET晶体管;Ugs=0,等效于共阳极二极管,B为阳极,SD为阴极,不论SD两端加什么电压都不会有电流产生。 当GS之间接上正压,Ugs被施加到衬底与栅极之间,会产生与P+衬底垂直的电场,当电场超过一定强度,会吸引较多的电子到P型硅的表面,在N+岛间形成到导电的N沟道。 这样S、D、N沟道一起与P衬底形成PN结,当漏极源极之间加正压为PN结反向截止,产生耗尽区,把它们与衬底隔离,并在不断的漏源极间的正压下形成漏极电流Id。 将刚开始出现N沟道的Ugs成为开启电压Ut;增强型MOSFET转移特性以及输出特性;耗尽型MOSFET

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