薄壁铜铝管电阻焊焊接界面的微观结构研究 Microstructure investigation for the interface of electric resistance welded CuAl thin walled tube.pdfVIP

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  • 2017-08-03 发布于上海
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薄壁铜铝管电阻焊焊接界面的微观结构研究 Microstructure investigation for the interface of electric resistance welded CuAl thin walled tube.pdf

第32卷第3期 兵器材料科学与工程 V01.32No.3 2009韭5月 ORDNANCEMA7rERIALSCIENCEANDENGINEERING May,2009 薄壁铜铝管电阻焊焊接界面的微观结构研究 刘英才1,张玉明1,荣鼎慧1,赵越1,尹衍升1,左铁军2 (1.中国海洋大学材料研究院,山东青岛266100;2.青岛市海青机械总厂山东青岛266003) 摘要利用SEM、EDS等技术对电阻焊薄壁铜铝管焊接界面进行研究.并结合Cu—Al二元相图进行界面分析。研究结果 表明在铜铝连接管的焊接界面处,铜与铝进行原子的互扩散。且铜原子向铝侧扩散的深度比铝原子向铜侧扩散的深度要 大。对界面进行背散射电子分析和能谱分析,发现界面存在柱状晶形貌的CuAl:相和呈灰白相间的层片状的Q—AI与 CuAI:的共晶。讨论柱状晶与共晶组织的形成与性能。并分析其对接头性能的影响。 关键词Cu/AI薄壁管;电阻焊;界面;微观结构 中图分类号TG457 文献标识码A 文章编号1004-244X(2009)03--0024-03 Microstructurefortheinterface investigation ofelectricresistancewelded Cu/A1thinwalledtube UU Yingcail,ZHANG Dinghuil,ZHAOYuel,YIN Yumin91,RONG Yanshen91,ZUOTiejun2 ofMaterialsScienceand of (1.Institute Engineering,OceanUniversity China,Qingdan266100,China;2.QingdaoHaiqing General 266003,China) MachineryFactory,Qingdao Almmct electron other Wele microscope(SEM)andenergy-dispersive analytic Scanning spectroscopy(EDS)andtechniques usedto thecharacteristicoftheinterfaceoftheelectricresistanceweldedC血UtIlin tubethis walledin inter- study paper.The face totheAI-Cu foundthatacertaininterdiffusionofaluminumand w船analyzedaccording binary diagram.It’S copper phase took inthe interfaceoftheCu/AItubeandthediffusionW88 one fromtheCusideintotheAIside. place welding pr

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