AOI检测系统光照不均的校正方法研究 Research of illumination correction in AOI system.pdfVIP

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2017-08-12 发布于上海
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AOI检测系统光照不均的校正方法研究 Research of illumination correction in AOI system

电子测量技术第30卷第7期，JECHNOLOGY ELEC，l、RONICMEASUREMENrl 2007年7爿 AOI检测系统光照不均的校正方法研究张纪铃冯晓龊夏超 (西北工业大学电子信息学院西安710072) 摘要：针对电子组装业自动光学检测(auLomatlcoptical 统同态滤波法2种校正方法，井将一种改进的基于小波变换的同态滤波方法应用于该领域。陵方法对目标图像进行多层小波分解，对各层高低频系数滤波处理，减弱低频系数，增强高频系数，然后进行小波重构，从而达到光照不均校 circuithoard 正的目的。然后取PcBA(printedassembly)图像进行了3种方法的实验对比，结果证明了改进的基于小波变换的同态滤波方法在AOI系统中具有很强的实用性。关键词：AOI；PcBA；同态滤波；小波变换中图分类号：TN60文献标识码：A ResearchofilluminationcorrectioninAOI syst咖 XlaCh最o ZhangJilingFengxia。yi (schoolofE】f=ct『0n1㈤ndTnfom扪on，NorthwesternP01ytecllnl吼lU州rsl姆，Ⅺ。孤71。072) this meth()dsfor inAOI are a|e Abstrad：In illurninationcorrection de_background paI】er，two systemanalyzed，、订1ich arldconventi。nal Anew tnethodof basedonwaveletis h。m。m。。phicfllterir增 anal”is honlomorphicⅢteri“g Introduced-Thewavelet coeffIcientsare a t0attenuatethe10w anal”is pmcessedusl“g highpass矗lter spatial thc Sotheundesiredc。nt曲utl。nswithinthe dueto s。urce frequencies柚dampllfyhj曲spa如1fr旺lu印cM mlage l坶ht new canbereducedandtheo featurescan resultss}10wthatthe ununifor【Ility bject be唧hasized．E印erin坨nt analysis methodof basedonwaveletmethod wellinⅢunljnation∞rrection． hon∞morphlc矗ltenng perforrns transfom Keywords：A()I；PCBA；homomo。phicfiltcri“g；wavck