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AOI检测系统光照不均的校正方法研究 Research of illumination correction in AOI system
电子测量技术 第30卷第7期
,JECHNOLOGY
ELEC,l、RONICMEASUREMENrl 2007年7爿
AOI检测系统光照不均的校正方法研究
张纪铃冯晓龊夏超
(西北工业大学电子信息学院 西安710072)
摘要:针对电子组装业自动光学检测(auLomatlcoptical
统同态滤波法2种校正方法,井将一种改进的基于小波变换的同态滤波方法应用于该领域。陵方法对目标图像进行
多层小波分解,对各层高低频系数滤波处理,减弱低频系数,增强高频系数,然后进行小波重构,从而达到光照不均校
circuithoard
正的目的。然后取PcBA(printedassembly)图像进行了3种方法的实验对比,结果证明了改进的基于小
波变换的同态滤波方法在AOI系统中具有很强的实用性。
关键词:AOI;PcBA;同态滤波;小波变换
中图分类号:TN60文献标识码:A
ResearchofilluminationcorrectioninAOI
syst咖
XlaCh最o
ZhangJilingFengxia。yi
(schoolofE】f=ct『0n1㈤ndTnfom扪on,NorthwesternP01ytecllnl吼lU州rsl姆,Ⅺ。孤71。072)
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Abstrad:In illurninationcorrection de_background
paI】er,two systemanalyzed,、订1ich
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Keywords:A()I;PCBA;homomo。phicfiltcri“g;wavck
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