LED可靠性评估的加速寿命试验设计方法 Accelerated Life Test Design for the Reliability Assessment of LEDs.pdfVIP

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2017-08-12 发布于上海
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LED可靠性评估的加速寿命试验设计方法 Accelerated Life Test Design for the Reliability Assessment of LEDs

No．3 电子产品可靠性与环境试验电子电路设计与应用 Voi．27 Jun．．2009 LED可靠性评估的加速寿命试验设计方法孙晓君。谢劲松 (北京航空航天大学可靠性工程研究所，北京 100191) 摘要：介绍了一种关于发光二极管(LED)可靠性评估的加速寿命试验设计方法。通过这个方法．在针对 LED的性能退化现象和运行不稳定问题进行加速试验设计时．可以在已知目标可靠度和置信度的前提下．定量地确定满足可靠性要求的试验用样本量、加速应力水平以及试验时间。同时．用于发光二极管加速寿命试验的基本设计思想，可以广泛地应用于常见电子元器件的器件产品质量认证或可靠性评估等试验设计中。关键词：发光二极管；可靠性评估；置信度；加速寿命试验；加速试验设计 2+．8 中图分类号：’rN3l 文献标识码：A AcceleratedLifeTest forthe Design Reliability AssessmentofLEDs SUN Xia叫un，XIEJing-song of of Aeronauticsand (InstituteReliability University Engineering，Beijing Astronautics，Beijing 100191，China) Abstract：This anacceleratedlifetest forthe paperpresents designmethodologyreliability assessmentof this behavior lightemittingdiodes(LEDs)．Usingmethodology，thedegradation andthe uncertaintiesofLEDsareconsideredinthe todeterminethe performance design sample testdurationfora of and stress value size，acceleratedconditions，and given targetedreliability in to confidence discussionsthis limited diodes．the level．Although lisht papera弛mostly emitting basicideaofthe Canbe totheacceleratedtest ofelectronic methodologyapplied