大功率白光led的寿命测定 lifetime estimation of high power white leds.pdfVIP

中国照明电器 2008年第1期 CHINALIGHTL1GHlING 39 大功率白光LED的寿命测定 Ishizaki著王雨晴编译 Shinya 摘 要 我们已开发出了大功率长寿命且可广泛地应用于日常照明领域的白光LED模块。由于其封装 材料的热阻小于20℃／W。因此，该装置在输入功率高达2．4W的情况下仍可照常工作，这样可以缩短 确定该LED芯片在Ti为1300C时，使用寿命为40000h(其光通维持率为50％)。其衰减过程的激活能 量为1．55eV。 白光GaN 关键词LED使用寿命 InGaN大功率 引言 1 LED的老化及其寿命测试 1986年，在蓝宝石基底上沉积高品质GaN晶体 在LED芯片中高电流密度会导致热化和强电场 获得成功，并且在1993年开发出了高亮度蓝光发光现象。持续的高温和强电场可能会增强原子的扩散 和造成电极的意外熔合，与此同时也有可能增加断层 二极管(LEDs)，至今，人们仍在对高亮度蓝光LED进 密度和点缺陷。用作LED外壳的大部分树脂会被短 行不断地完善。在1996年，开发出了采用蓝光LED 与黄色荧光粉相结合发出白光的LED产品并将其商 波光子所产生的辐射破坏。树脂吸收光子所发出的 业化。 ． 能量和化学反应中所释放的能量，可导致树脂的颜色 变暗，从而进一步增强树脂对光的吸收。而且在较高 “2l世纪照明”METI国家(Akari)项目是一项基 于高效率白光LED照明技术的工程，它利用的是近 的温度下，这种反应会有所加剧。 紫外线LED与荧光粉系统相结合的方法，该项目于 热化循环会引起热应力并且损坏焊接部件。热 应力也许会导致半导体芯片中的原子扩散或断层运 1998年启动，其第一阶段的项目已于2004年完成。 近些年来，LED照明因具有许多优点，例如长寿 动的增强。 命、低能耗、体积小等而非常有吸引力。最早LED只 化学反应和原子扩散会导致设备逐渐老化。另 是被用来替换小型白炽灯充当指示器。在其光效有 一方面，设备的突然老化主要是由热化循环造成的。 所提高后，LED被应用于显示器中。随着其光效和总 本文中我们主要研究逐渐老化过程。 光通量的进一步改善，LED开始被应用于Et常照明领 从实用的观点出发，人们很有必要利用尽可能短 域。对于普通照明设备而言，LED有限的光通量是一 的实验时间对设备在给定温度下的使用寿命进行估 个难以解决的问题。要想获得高光通量就需要有高 密度基底和大的工作电流。这将导致LED产生热 以利用提高注入电流密度的方法完成加速寿命实验。 量、温度升高，损坏LED模块。为了解决这个问题， 高电流密度会导致热化并且损坏LED芯片周围的树 我们必须对大功率LED模块的设计进行改进。 脂，因为其温度超过了树脂的玻璃态转化温度。这正 许多文章都谈到了有关增加功率和扩展LED光 是加速测试实验的难度所在，即过多的热量必须从外 源应用领域方面的问题。然而仅有少量著作涉及到 壳中提取出来。我们最近设计的一款大功率LED模 了LED光源使用寿命的问题以及白光LED。 块可以克服上述长期以来存在的问题。 本文的目的是对新开发出的大功率LED模块的 万方数据