- 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
- 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
高性能顶栅结构有机薄膜晶体管-上海高等研究院
第 卷 第 期 ,
27 3 液 晶 与 显 示 Vol.27 No.3
年 月 ,
2012 6 ChineseJournalofLiuidCr stalsandDis las Jun.2012
q y p y
文章编号: ( )
10072780201203031305
- - -
高性能顶栅结构有机薄膜晶体管
, , , , , , ,
洪 飞 谭 莉 朱棋锋 向长江 韩学斌 张其国 郭晓东 申剑锋
( , , : )
中国科学院上海高等研究院新型显示技术研究中心 上海 201210 Email hon f casail.com
- g@
: ( ) ( ) ,
摘 要 采用六联苯 6P 和氧钒酞菁 VOPc 作为有源层材料 利用弱外延生长技术制备有机薄膜晶体管
-
p
( )。 ( ) ( ) ,
OTFT 在相同的工艺条件下制备了顶栅结构 to ate 和底栅结构 bottom ate 两种器件构型 发现两
- -
pg g
, 。
种不同结构的 OTFT器件特性存在较大的差异 to ateOTFT 的迁移率比bottom ateOTFT 高很多 在
- -
pg g
2
, / · 。
顶栅结构的器件构型中获得了较高的器件特性参数 迁移率达到 1.6cm V s 研究了弱外延生长技术应
, 。
用在两种不同器件构型中的差异 并解释了顶栅结构 OTFT迁移率较高的原因
: ; ; ;
关 键 词 有机薄膜晶体管 顶栅结构 弱外延 氧钒酞菁
中图分类号: 文献标识码: : /
TN321.5 A DOI 10.3788YJY
文档评论(0)