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- 2017-08-20 发布于浙江
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光致发光(PL)谱原理、测试及应用;一、光致发光基本原理
二、仪器及测试
三、应用;一、光致发光基本原理;2. 基本原理:由于半导体材料对能量高于其吸收限的光子有很强的吸收,吸收系数通常超过104cm-1,因此在材料表面约1μm厚的表层内,由本征吸收产生了大量的额外电子-空穴对,使样品处于非平衡态。这些额外载流子对一边向体内扩散,一边通过各种可能的复合机构复合。其中,有的复合过程只发射声子,有的复合过程只发射光子或既发射光子也发射声子。; 从微观上讲,光致发光可以分为两个步骤:
第一步是以光对材料进行激励,将其中电子的能量提高到一个非平衡态,也就是所谓的“激发态”;
第二步,处于激发态的电子自发地向低能态跃迁,同时发射光子,实现发光。 ;e-h; 在这个过程中,有六种不同的复合机构会发射光子,它们是:
(1)自由载流子复合 —— 导带底电子与价带顶空穴的复合;
(2)自由激子复合 —— 晶体中原子的中性激发态被称为激子,激子复合也就是原子从中性激发态向基态的跃迁,而自由激子指的是可以在晶体中自由运动的激子,这种运动显然不传输电荷;
(3)束缚激子复合 —— 指被施主、受主或其他陷阱中心(带电的或不带电的)束缚住的激子的辐射复合,其发光强度随着杂质或缺陷中心的增加而增加;;(4)浅能级与本征带间的载流子复合——即导带电子通过浅施主能级与价带空穴的复合,或价带空穴通过浅受主能级与导带电子的复合;
(5)施主-受主对复合——专指被施主-受主杂质对束缚着的电子-空穴对的复合,因而亦称为施主-受主对(D-A对)复合;
(6)电子-空穴对通过深能级的复合——即SHR复合,指导带底电子和价带顶空穴通过深能级的复合,这种过程中的辐射复合几率很小。 ; 在上述辐射复合机构中,前两种属于本征机构,后面几种则属于非本征机构。由此可见,半导体的光致发光过程蕴含着材料结构与组份的丰富信息,是多种复杂物理过程的综合反映,因而利用光致发光光谱可以获得被研究材料的多种本质信息。; 由于PL谱与晶体的电子结构(能带结构)、缺陷状态、和杂质等密切相关,因此,光致发光被广泛用来研究半导体晶体的物理特性。;二、仪器及测试;图2 光致发光光谱测量装置示意图;实验室仪器;氩离子激光器电源;氩离子激光器;He-Cd激光器;样品架;真空泵;TRIAX550 PL谱仪;放大器;测试;放置样品(晶片,粉体,薄膜)
抽真空
降温
激光器使用
光谱仪自检
校准
样品发光光谱测量
变温测量
变功率测量
关机;Evaluation only.
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