同步辐射成像技术在材料力学性能研究中的应用-上海光源.pdf

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同步辐射成像技术在材料力学性能研究中的应用-上海光源

同步辐射成像技术 同步辐射成像技术 在材料力学性能研究中的应用 在材料力学性能研究中的应用 报告人: 胡 小 方 单位: 中国科学技术大学 2013年 10月25 日 上 研究的问题 环境 (载荷、 温度等) 材料 结构演化 观测 结构演化 观测 分析 分析 信息提取 信息提取 评价 评价 为什么要用同步辐射光? 同步辐射光的主要杰出性能: 1. 连续光谱(远红外~硬X光); 2. 高准直性; 3. 高亮度; 4. 高偏振 ; 5. 高纯净; 6. 窄脉冲(ps-ns) 7. 可精确预知。 目前主要的材料结构观测方法及主要特点 分析技术 分辨本领 工作环境 工作温度 对样品的 检测深度 破坏程度 XRD 0.1nm 大气 无 粉末样品 可直接观察原子 大气 低温 无 1~2 STM 横向分辨率:0.1nm 溶液 室温 原子层 纵向分辨率:.01nm 真空均可 高温 横向点分辨率: 低温 中 0.3~0.5nm 室温 等于样 TEM 横向晶格分辨率: 高真空 高温 品厚度 0.1~0.2nm (100nm) 纵向分辨率:无 SEM 采用二次电子成像 低温 小 横向分辨率:1~3nm 高真空 室温 1μm 纵向分辨率:低 高温 FIM 横向分辨率:0.2nm (场致离子 纵向分辨率:低 超高真空 30~80K 大 原子厚度 显微镜) 这类方法的局限性 共同限制:表面或薄样品,需制 共同限制:表面或薄样品,需制 样与真空环境 样与真空环境 观察内部 观察内部 耗时费力

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