第章（X射线属性） .pptVIP

X射线衍射分析技术;第一章 X射线的物理学基础;1.1 X射线的性质 X射线是一种与可见光完全相同的电磁波，是由高速带电粒子与物质原子中的内层电子作用而产生的。能量大，波长短，穿透物质的能力强。;;1.2 X射线的产生; 3、X射线管的结构; 1.3 X射线谱;U? ? I? ? ?0 ? i ? ? I? ? ?0 不变 Z ? ? I? ? ?0 不变 （I为x射线强度）; 连续X射线的强度;3、特征（标识）X射线谱;如 L层电子跃迁到K层,此时能量降低为:;1) 需要最低的管电压Vk（激发电压），它由阳极靶的原子序数Z决定。 2) 靶不同，特征X射线谱的波长也不同。 3) VV激时,特征X射线谱的波长不变，仅强度增大。 ;1.4 X射线与物质相互作用; 1、相干散射; 4、荧光X射线;5、俄歇效应（Auger） K层电子被光量子击出后，L层电子跃入K层，若此时不发生光电效应（即不产生特征X射线），而是多余的能量（El－Ek）被另一L层电子吸收而逸出L层， 这样，一个K层空位造成两个L层空位，这一过程称为俄歇效应。跃出L层的电子称为俄歇电子。 俄歇电子的能量与激发源（光或电子）的能量无关，只取决于物质的能级结构，是元素的特征值，俄歇效应特别适合做表面轻元素的分析。; 3、X射线的吸收;对于多种元素以上的物质的吸收系数,可以通过下式得到:;6、X射线吸收限 定义：一个物体对x射线的吸收系数与x射线的波长遵循以下关系： ?m ? K?3Z3 （ λ?? ?m? ?穿透能力越强 ） 但实际上随λ?， ?m不是连续变化， 当λ≤ λK， ?m 突然增加， 将λK 称为该物质的吸收限，吸收限为吸收体的特征值。; (1) 滤波片的吸收限位于辐射源的Kα和Kβ之间，且尽量靠近Kα，强烈吸收Kβ，保持Kα能量； (2) 滤波片材料的选择原则 Z靶40时， Z滤片=Z靶-1； Z靶40时， Z滤片=Z靶-2； (3) 阳极靶的选择: （a）阳极靶K?波长稍大于试样的吸收限（避免荧光散射）； （b）试样对X射线的吸收最小。 所以，靶材的Kα稍大于，且接近样品的吸收限。 所以：Z靶≤Z试样+1。;几种元素的 K系射线波长及常用滤波片;X射线与物质相互作用的总??;1.5 X射线的安全防护