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计算机组成原理与体系结构寄存器实验
电子信息学院
实验报告书
课程名:《计算机组成原理与体系结构》
题 目: 寄存器实验
实验类别 【验证】
班 级:
学 号:
姓 名:
实验内容或题目
寄存器实验
实验目的与要求
了解模型机中各种寄存器结构、工作原理及其控制方法 。利用CPTH试验仪上的K16..K23开关做为控制信号,将数据写入寄存器,这些寄存器包括累加器A,工作寄存器W,数据寄存器组R0..R3,地址寄存器MAR,堆寄存器ST,输出寄存器OUT。
实验步骤
⑴ 实验步骤
连接 信号孔 接入孔 作用 状态说明 1 J1座 J3座 将K23-K16接入DBUS[7:0] 实验模式:手动 2 AEN K3 选通A 低电平有效 3 WEN K4 选通W 低电平有效 4 CK 已连 ALU工作脉冲 上升沿打入 (2)
连接 信号孔 接入孔 作用 状态说明 1 J1座 J3座 将K23-K16接入DBUS[7:0] 实验模式:手动 2 RED K11 寄存器组读使能 低电平有效 3 RWR K10 寄存器写使能 低电平有效 4 SB K1 寄存器选择B 5 SA K0 寄存器选择A 6 CK 已连 寄存器工作脉冲 上升沿打入 7 D7...D0 L7...L0 观察寄存器数据输出
(3)
连接 信号孔 接入孔 作用 状态说明 1 J2座 J3座 将K23-K16接入DBUS[7:0] 实验模式:手动 2 MAROE K14 MAR地址输出使能 低电平有效 3 NAREB K15 MAR寄存器写使能 低电平有效 4 STEN K12 ST寄存器写使能 低电平有效 5 OUTEN K11 OUT寄存器写使能 低电平有效 6 CK 已连 寄存器工作脉冲 上升沿打入
测试数据与实验结果(可以抓图粘贴)
结果分析与实验体会
本次实验是有关寄存器的操作和使用,在实验中,我们在试验仪上的K16..K23开关控制信号,将数据写入寄存器,及累加器A,工作寄存器W,数据寄存器组R0..R3,地址寄存器MAR,堆寄存器ST,输出寄存器OUT。当然,还有很多地方不是很了解,也经过了改正,才能完成实验 。同时也更了解了型机中各种寄存器结构、工作原理及其控制方法。
《计算机组成原理》实验报告 - 3 -
评语:
实验态度:认真( ) 一般( ) 差( )
实验结果:正确( ) 部分正确( )错( )
实验理论:掌握( ) 熟悉( ) 了解( ) 不懂( )
操作技能:强( ) 一般( ) 差( )
实验报告:好( ) 一般( ) 差( )
成绩: 指导教师:
批阅时间: 年 月 日
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