计算机组成原理与体系结构寄存器实验.docVIP

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计算机组成原理与体系结构寄存器实验

电子信息学院 实验报告书 课程名:《计算机组成原理与体系结构》 题 目: 寄存器实验 实验类别 【验证】 班 级: 学 号: 姓 名: 实验内容或题目 寄存器实验 实验目的与要求 了解模型机中各种寄存器结构、工作原理及其控制方法 。利用CPTH试验仪上的K16..K23开关做为控制信号,将数据写入寄存器,这些寄存器包括累加器A,工作寄存器W,数据寄存器组R0..R3,地址寄存器MAR,堆寄存器ST,输出寄存器OUT。 实验步骤 ⑴ 实验步骤 连接 信号孔 接入孔 作用 状态说明 1 J1座 J3座 将K23-K16接入DBUS[7:0] 实验模式:手动 2 AEN K3 选通A 低电平有效 3 WEN K4 选通W 低电平有效 4 CK 已连 ALU工作脉冲 上升沿打入 (2) 连接 信号孔 接入孔 作用 状态说明 1 J1座 J3座 将K23-K16接入DBUS[7:0] 实验模式:手动 2 RED K11 寄存器组读使能 低电平有效 3 RWR K10 寄存器写使能 低电平有效 4 SB K1 寄存器选择B 5 SA K0 寄存器选择A 6 CK 已连 寄存器工作脉冲 上升沿打入 7 D7...D0 L7...L0 观察寄存器数据输出 (3) 连接 信号孔 接入孔 作用 状态说明 1 J2座 J3座 将K23-K16接入DBUS[7:0] 实验模式:手动 2 MAROE K14 MAR地址输出使能 低电平有效 3 NAREB K15 MAR寄存器写使能 低电平有效 4 STEN K12 ST寄存器写使能 低电平有效 5 OUTEN K11 OUT寄存器写使能 低电平有效 6 CK 已连 寄存器工作脉冲 上升沿打入 测试数据与实验结果(可以抓图粘贴) 结果分析与实验体会 本次实验是有关寄存器的操作和使用,在实验中,我们在试验仪上的K16..K23开关控制信号,将数据写入寄存器,及累加器A,工作寄存器W,数据寄存器组R0..R3,地址寄存器MAR,堆寄存器ST,输出寄存器OUT。当然,还有很多地方不是很了解,也经过了改正,才能完成实验 。同时也更了解了型机中各种寄存器结构、工作原理及其控制方法。 《计算机组成原理》实验报告 - 3 - 评语: 实验态度:认真( ) 一般( ) 差( ) 实验结果:正确( ) 部分正确( )错( ) 实验理论:掌握( ) 熟悉( ) 了解( ) 不懂( ) 操作技能:强( ) 一般( ) 差( ) 实验报告:好( ) 一般( ) 差( ) 成绩: 指导教师: 批阅时间: 年 月 日

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