嵌入式AD接口实验.docVIP

2.4 A/D 接口实验 一、实验目的 了解在 linux 环境下对 S3C2410 芯片的 8 通道 10 位 A/D 的操作与控制。 二、实验内容 学习 A/D 接口原理，了解实现 A/D 系统对于系统的软件和硬件要求。阅读 ARM 芯片文档， 掌握 ARM 的 A/D 相关寄存器的功能，熟悉 ARM 系统硬件的 A/D 相关接口。利用外部模拟信 号编程实现 ARM 循环采集全部前 4 路通道，并且在超级终端上显示。 三、预备知识 ? 有 C 语言基础。 ? 掌握在 Linux 下常用编辑器的使用。 ? 掌握 Makefile 的编写和使用。 ? 掌握 Linux 下的程序编译与交叉编译过程。 四、实验设备及工具 硬件：UP-TECH S2410/P270 DVP 嵌入式实验平台、PC 机 Pentium 500 以上, 硬盘 10G 以上。 软件：PC 机操作系统 REDHAT LINUX 9.0＋MINICOM＋ARM-LINUX 开发环境  五、实验原理 1、A/D 转换器 A/D 转换器是模拟信号源和 CPU 之间联系的接口，它的任务是将连续变化的模拟信号转换 为数字信号，以便计算机和数字系统进行处理、存储、控制和显示。在工业控制和数据采 集及许多其他领域中，A/D 转换是不可缺少的。 A/D 转换器有以下类型：逐位比较型、积分型、计数型、并行比较型、电压－频率型，主 要应根据使用场合的具体要求，按照转换速度、精度、价格、功能以及接口条件等因素来 决定选择何种类型。常用的有以下两种： ? 双积分型的 A/D 转换器 双积分式也称二重积分式，其实质是测量和比较两个积分的时间，一个是对模拟输入电压 积分的时间 T0，此时间往往是固定的；另一个是以充电后的电压为初值，对参考电源 Vref 反向积分，积分电容被放电至零所需的时间 T1。模拟输入电压 Vi 与参考电压 VRef 之比，等 于上述两个时间之比。由于 VRef 、T0 固定，而放电时间 T1 可以测出，因而可计算出模拟输 入电压的大小(VRef 与 Vi 符号相反)。 由于 T0、VRef 为已知的固定常数，因此反向积分时间 T1 与输入模拟电压 Vi 在 T0 时间内的平 均值成正比。输入电压 Vi 愈高，VA 愈大，T1 就愈长。在 T1 开始时刻，控制逻辑同时打开计 数器的控制门开始计数，直到积分器恢复到零电平时，计数停止。则计数器所计出的数字 即正比于输入电压 Vi 在 T0 时间内的平均值，于是完成了一次 A/D 转换。 由于双积分型 A/D 转换是测量输入电压 Vi 在 T0 时间内的平均值，所以对常态干扰(串摸干 扰)有很强的抑制作用，尤其对正负波形对称的干扰信号，抑制效果更好。 双积分型的 A/D 转换器电路简单，抗干扰能力强，精度高，这是突出的优点。但转换速度 比较慢，常用的 A/D 转换芯片的转换时间为毫秒级。例如 12 位的积分型 A/D 芯片 ADCETl2BC， 其转换时间为 lms。因此适用于模拟信号变化缓慢，采样速率要求较低，而对精度要求较 高，或现场干扰较严重的场合。例如在数字电压表中常被采用。 ? 逐次逼近型的 A/D 转换器 逐次逼近型(也称逐位比较式)的 A/D 转换器，应用比积分型更为广泛，其原理框图如图 2.4.1 所示，主要由逐次逼近寄存器 SAR、D/A 转换器、比较器以及时序和控制逻辑等部分 组成。它的实质是逐次把设定的 SAR 寄存器中的数字量经 D/A 转换后得到电压 Vc 与待转换  模拟电压 V。进行比较。比较时，先从 SAR 的最高位开始，逐次确定各位的数码应是“1”还 是“0”，其工作过程如下： 转换前，先将 SAR 寄存器各位清零。转换开始时，控制逻辑电路先设定 SAR 寄存器的最高 位为“1”，其余位为“0”，此试探值经 D/A 转换成电压 Vc，然后将 Vc 与模拟输入电压 Vx 比 较。如果 Vx≥Vc，说明 SAR 最高位的“1”应予保留；如果 VxVc，说明 SAR 该位应予清零。 然后再对 SAR 寄存器的次高位置“1”，依上述方法进行 D/A 转换和比较。如此重复上述过程， 直至确定 SAR 寄存器的最低位为止。过程结束后，状态线改变状态，表明已完成一次转换。 最后，逐次逼近寄存器 SAR 中的内容就是与输入模拟量 V 相对应的二进制数字量。显然 A/D 转换器的位数 N 决定于 SAR 的位数和 D/A 的位数。图 2.4.1(b)表示四位 A/D 转换器的逐次 逼近过程。转换结果能否准确逼近模拟信号，主要取决于 SAR 和 D/A 的位数。位数越多， 越能准确逼近模拟量，但转换所需的时间也越长。 z 逐次逼近式的 A/D 转换器的主要特点是： 转换速