片上网络通信架构的bist测试方法 bist for network-on-chip communication architecture.pdfVIP

研究与开发 片上网络通信架构的BIST测试方法木 欧阳一鸣。牛丽义，梁华国 (合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009) on 为了保证NoC(network chip，片上网络)中IP核之间的正确通信，需要对片上网络通信架构进行测 试。本文针对Mesh NoC的功能测试，提出了一种测试通信架构的BIST(built．inselftest，内建自测试) 方法。该方法在NI(networkinterface，资源网络接口)中添加BIST模块TPG(test patterngenerator，测试 向量产生器)和TRA(testresponse analyzer，测试响应分析器)，利用TPG产生测试数据，TRA分析测 试响应，来实现通信架构的测试过程。实验结果表明，该方法在增加面积开销较小的情况下，不仅降低 了测试成本。还降低了测试时间。 蠹．关键谓。持生鹅络；通信槊构；功能测试；鹿建自tWl罐 信架构的测试，后者则又可以分为路由器和链路的测试。 1 引言 对于口核的测试，参考文献【2】和[3】都采用重用NoC通信 access 集成电路制造工艺持续发展，电子元件的特征尺寸步 架构作为测试访问机制(test mechanism，TAM)的方 入了纳米时代，在未来若干年内，特征尺寸将持续缩小到 法。不同之处在于如何重用NoC的资源构造出更有优势 32砌。甚至22nm。从而，在一颗芯片上会出现数十甚至 的TAM，实现测试并降低测试时间。参考文献『4恻利用 数百个处理器联合工作的超复杂电路系统。以传统的共享 NoC的高带宽，设计出多时钟机制划分时间槽，让IP核贫 on 在不同的时间槽里测试，从而降低测试时间。对于NoC通 总线互连为通信基础的SoC(systemchip)将面临着由 地址空间有限导致的扩展性较差、分时通信导致的通信效 信架构中路由器的测试。在结构故障模型的基础上。可以 率较低、全局同步导致的功耗和面积等三大问题。为了解 借助测试外壳的DfII设计方法[51测试，也可以从NoC中选 test 决上述问题，片上网络【l】作为一种新的通信架构被提出来， 取一个或多个路由器与ATE(automatic equipment。自 access 它借鉴和吸收了通信网络中的一些思想．因而带来了高带 动测试设备)相连作为TAS(testswitch，测试访问开 宽、低延迟和可扩展性的优点。随着电路集成规模的提高， 关)嗍。然后按照一定的路由算法让从ATE接收到的测试 NoC在运行中非常容易出现损坏．因此需要对NoC进行数据通过TAS在整个NoC中传输。上述测试方法可以达 测试。 到100％的故障覆盖率，但