基于边界扫描技术的数字系统测试研究.PDF

集成电路应用 基于边界扫描技术的数字系统测试研究 , 倪 军 12,杨建宁2 ( 皖西学院 机械与电子工程系,安徽 六安 1. 237010; 2.江苏大学 电气信息工程学院,江苏 镇江 212013) 摘 要:介绍了支持 标准的 芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制 JTAG IC 芯片处于特定功能模式的方法。针对 芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法,并用两 IC IC 块 芯片互连的 板为例进行设计分析和实验实现。通过实验实现 体现了边界扫描技 xc9572pc84 PCB , 术易于电路系统调试和方便系统设计的特点,且设计的系统控制逻辑简单方便