基于ARM的便携式晶体管参数测量平台研制.pdfVIP

基于ARM的便携式晶体管参数测量平台研制 袁秋晨，姚益武，董利民 (北京工业大学电子信息与控制工程学院北京 100124) 摘要：介绍一种晶体管参数测量平台的方案．给出硬件组成和软件流程。使用ARM处理器及WinCE系统作为软硬 压测量。将晶体管参数测量平台与单片机及传统示波器测量平台做了比较．其测量精度高于示波器，并且在对数据的分析 处理能力及速度上ARM优于单片机，结果表明该系统性能可靠、速度快、精度高且便携。 关键词：晶体管参数测量平台；$3C2410；WindowsCE．NET；ARM处理器 中图分类号：TN307 文献标识码：A 文章编号：1004—373X(2010)06—040—03 ResearchonARM——basedPortablePlatformforTransistorParameterMeasurement YUAN Limin Qiuchen，YA()Yiwu，DONG (SchoolofElectronicInformation8Control of Engineering．BeijingUniversityTechnology．Beijing．L00124．China) Abstract：The0ftransistor measurementisintroduced，thehardware andsoft— program parameter platform components ware are ARM andWinCE asthebasichardwareand asthecore processor software．$3C2410 processgiven．Using system 1 control 12bitD／AmoduleTLV568 astablecontr01 0bitA／D measurementmodule circuit，using produce voltage，1 voltage TI。C1543 measurementandthe voltagemeasurement．Transistor traditional complete parameter platform singlechipplatform． measurementsare measurementismoreaccuratethanthe oscilloscope platformcompared．the platform oscilloscopeplatform。 ARMis than indata showthat and better the isreliable．fast singlechipmicrocomputerprocessing．Resultssystem speed，high and accuracyportability． measurement 10；WindowsCE．NET；ARM Keywords：transistorparameter platform；$3C24 processor