铜阴极电解的emd的电子微探分析 epma of emd electrolyzed by cu cathode.pdfVIP

第39卷第4期 电 池 V01．39，No．4 2009年8月 BATTERYBIMONTHLY Aug．，2009 M 铜阴极电解的E D的电子微探分析 竹原尚夫 (湖南阳光电化有限公司，湖南邵阳422900) lO“％。通过EPMA，可以对EMD进行微观解析。 关键词：EMD；铜阴极电解；电子微探分析(EPMA) 中圈分类号：TM911．14文献标识码：A 文章编号：1001一1579(2009)04—0214—02 EPMA Cucathode ofEMD electrolyzedby TakeharaHisao (HunanSunshineElectro-Chemicals 422900，China) Co．，Ltd．，S脚ang，Hunan Abstract：CuwasfoundtobeconcentratedelectronmicroaIIalysis(EPMA)ofcoupledplasma-atomic by probe EMD．Inductively emission valueWtmO．8×10—4％．MicroofEMDcouldbetakenEPMA． spectrometry(ICP-AES)analysisanalysis by words：EMD；Cu-cathode Key mlcroanalysis(EPMA) electrolysis；electronprobe 电解二氧化锰(EMD)中的不纯金属离子会在zn表面析检测限为5×10—3％)，对中国A公司在市场上销售的碱锰 出，导致局部腐蚀，析出的金属会发生阴极反应，产生氢气。 电池用EMD进行EPMA，该样品电解时的阴极为cu电极。 一般控制EMD中的杂质(如Cu、Mo、As、Pb、Sb、Sn、Cr、Ni、对该样品用电感耦合等离子体发射光谱(IcP-AEs)法进行分 Co、v和ce等)的含量为百万分之几，尽量降低Fe的含量。析，测定Cu和Fe的含量；用N，N．二乙基一对苯二胺硫酸盐 杂质含量高的EMD，易使电池的储存和高温性能恶化。 吸光光度法(DPD)比色法进行分析，测定Cl的含量。 除了Pt和Au这两种贵金属，Cu的标准电位比其他杂 EPMA分面分析和点分析，分别测定元素浓度分布和检 质(如Fe、Cr、Pb和Ni等)高，最容易析出。这种析出在zn 测构成元素。由于要检测微量元素，x射线的照射条件苛 粒子的表面不均匀进行，有人认为会析出“树枝状”细长特异 刻，样品受到部分损害，部分微粒已没有菱角，变得圆滑了。 结晶[11。杂质对结晶成长的形状及速度影响较大。一般认 2结果与讨论 为，原子半径与zn近似的Cu的影响最大；有人认为，cu2+的 半径与zn2+相近，cu与zn的复合金属氢氧化物结晶会与 2．1整体EPMA c睇一、s嵋一等形成正极腐蚀反应，生成复合盐结晶【2j。 ms×5 EMD的整